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标题:[未解决]根据透射谱和吸收谱如何测量吸收情况!

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tiahhg[使用道具]
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根据透射谱和吸收谱如何测量吸收情况!

本来想测量半导体薄膜的透射谱从而获得超晶格对400-1700cm-1的吸收情况(还有一个对比片),谁知道这一段基本全被反射了!我要怎么样才能比较精确的获得它的吸收情况?(对比片的光谱和超晶格相比基本没有差别!)


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2010-7-7 10:08
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  • miracle   2010-7-7 10:09  可用分  +2   鼓励新手,发起话题讨论!
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jianghai[使用道具]
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楼主,取一小块你的样品,捣碎,压片~~~
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honey[使用道具]
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lz试过衰减全反射附件吗?对薄膜样品比较好用,不过最低波数范围是650cm-1。
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chenyujing[使用道具]
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楼主尝试漫反射或者是衰减全反射附件测量看看效果怎么样。
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bison2006[使用道具]
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这位网友问的是要测定半导体薄膜的红外光谱图。红外光谱图测定通常有四法:1、压片法,2、糊法,3、膜法,4、溶液法。红外光谱常用透射法测定,不用吸收法测定,因为标准光谱图均提供透射法光谱图。
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xjs1013[使用道具]
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不知这位网友用的是何种型号的红外。热电尼高利的红外有一个附件可以测量薄膜,按说明操作即可。
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tuhuamin[使用道具]
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查阅中国学术期刊网,会有测量原理、样品测试等论文,对比参照,即可选取自己的实验方案。
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jxu@iccas.ac.cn[使用道具]
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其实通过反射方法也是可以测量吸收的。关键是看光路如何设置。测量对于样品厚度, 形状等也有要求。但是就他的问题来说,查找相关的光学手册,也许就能找到答案, 而不需要测量。
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jinxg[使用道具]
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"这一波段基本全被反射了"而得不到透射谱或吸收谱,因此,该网友需要去找可测反射谱的紫外光谱仪,即可得到吸收谱。
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