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标题:[未解决]【转载】【求助】安捷伦ICP-OES IEC元素间干扰校正系数

  [未解决]本主题悬赏 可用分 10  
momom[使用道具]
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发表于 2014-8-11 05:37 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

【转载】【求助】安捷伦ICP-OES IEC元素间干扰校正系数

各位，谁应用过安捷伦ICP-OES 的IEC元素间干扰校正系数这项功能啊？能讲讲吗？
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夜蓝星[使用道具]
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发表于 2014-8-11 05:39 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
没有亲自用过，不过看过一些资料。
IEC是用于校正直接的光谱重叠，使用一个干扰的校正因子对每个分析进行浓度校正。在设置IEC前需要知道是什么干扰，测定干扰IEC 是基于背景校正点上，并且它假设干扰与浓度是线性关系，从而应用系数来校正。
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夜蓝星[使用道具]
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发表于 2014-8-11 05:39 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
不过个人觉得还是通过机体匹配和选择无干扰谱线更简单易行。
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momom[使用道具]
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发表于 2014-8-11 05:40 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
我看仪器里的方法要先用分析元素做标准曲线，然后在用干扰元素做标准曲线，然后再用分析元素做标准曲线，我不明白这三条曲线在测试时分别起什么作用，您有这方面的资料吗？
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熊猫[使用道具]
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发表于 2014-8-11 05:42 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
我的想法和2楼基本一致；只是有一点需要补充一下，使用IEC的话需要同时测定各干扰元素的浓度，干扰元素的浓度往往比较高(远远超出日常分析所用工作曲线的线性范围)，数据可能测不准，在校正因子绝对值较大的情况下对校正效果有影响；稀释的话，如果待测元素灵敏度不高则又是一个问题。
使用干扰元素做标准曲线是为了量化干扰元素对待测元素的干扰，楼主确定还有第三步么？PE的IEC也就是前两步。
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发表于 2014-8-11 05:42 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
确定，我用的是安捷伦的ICP-OES，前两步我理解，就是第三步不理解
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小熊猫[使用道具]
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发表于 2014-8-11 05:43 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
没用过，但个人感觉FACT比IEC好用，也简单。
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小牛牛[使用道具]
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发表于 2014-8-11 05:44 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
原文由 yiqizhao(yiqizhao) 发表:

确定，我用的是安捷伦的ICP-OES，前两步我理解，就是第三步不理解


我是这么理解的，前两步是为了得到IEC因子，而第三步就更平时做样一样，需要打曲线，不过这时它已经用IEC因子计算过了！！！
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发表于 2014-8-11 05:44 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
原文由 doraemon(doraemon) 发表:
没用过，但个人感觉FACT比IEC好用，也简单。


你好！做FACT模型时，待测元素的浓度选多大的？干扰元素的浓度选多大的？比如土壤中Fe对Cu的干扰，要多大浓度的Fe和Cu啊？需要一样大么？请各位前辈告之。。。谢谢
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小黄[使用道具]
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发表于 2014-8-11 05:45 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
这个可以参考我13年的原创。
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