比表面分析仪技术特点
BET比表面积分析，6个样品平行运行， 30分钟内即可完成分析大容量杜瓦瓶允许长时间分析，是获得高分辨率的吸附/脱附等温线的必要条件
ASAP 2420比表面及孔径分析仪,孔径测定仪可选择氪气作为吸附介质来进行总比表面积和微孔的测试低压进气和平衡模式，微孔选件允许独立的6个分析站同时进行微孔分析
ASAP 2420孔径分析仪,孔径测定仪可选满足FDA的要求的Confirm 21 CFR Part 11的软件。 IQ和OQ认证服务，确保该系统的准确性，可靠性和一致性。这些服务保障了分析记录的完整性
仪器配置了液氮液面保持装置---液氮等温夹，以确保整个分析过程中等温夹套以下的温度恒定
ASAP 2420比表面及孔径分析仪,孔径测定仪配备有两套真空系统,既脱气系统和分析系统相互独立，各自有一套独立的双级机械泵(可加装高真空系统),提高了测试效率，真正做到分析与脱气的同时进行。避免了由一套真空系统而带来的污染问题
配备了大容量杜瓦瓶，结合专利的液氮等温夹，保证至少60小时无人介入操作。最大无上限的连续分析
ASAP 2420比表面及孔径分析仪,孔径测定仪配置了先进的样品管密封单向阀，避免了样品管在从脱气站到分析站转移过程中的二次污染
真正的全自动仪器，仪器面板无任何手动按键，所有的操作程序均由计算机来控制
仪器选配高真空单元后可进行低比表面测试和氩气的微孔分析功能。         
仪器软件包含了目前所有的数据处理方法:
单点和多点BET比表面积, Langmuir比表面积
Temkin and Freundlich等温线分析
多种厚度层公示计算的BJH中孔和大孔的孔体积、孔面积对孔径的分布
孔体积和用户指定孔径范围内的总孔体积
MP法的微孔孔径分布和t-plots、αs-plots得到的微孔总孔体积
f-Ratio plots，D-R，D-A
H-K法(包括Cheng & Yang校正，Saito & Foley校正)
DFT密度函数理论，包括NLDFT等
详情：比表面分析仪 cuturl('http://www.micromeritics.com.cn/products_view.aspx?id=5')