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标题:【求助】扫描电镜能谱与X射线光电子能谱的区别

今生如此[使用道具]
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发表于 2014-11-3 10:52 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

【求助】扫描电镜能谱与X射线光电子能谱的区别

有谁知道扫描电镜能谱与X射线光电子能谱的区别，它们是测得表面还是整体的元素情况，可不可以通过它们判断出哪些元素发生了反应？谢谢！
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小熊妮妮[使用道具]
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发表于 2014-11-3 10:52 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
扫描电镜能谱能测出含有那些元素及其含量和分布，不是全部的，但是比表面的要深一些。XPS可以看到元素所处的化合态，基本是表面的。
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hcy517[使用道具]
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发表于 2014-11-3 10:53 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
EDS基本上检测的是表面10nm厚度下的元素，而且似乎只能检测出元素的种类；而XPS则可以检测表面小于5nm厚度下的元素，而且可以知道该元素以何种形式存在。
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小熊妮妮[使用道具]
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发表于 2014-11-3 10:54 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
SEM主要看表面形貌，景深大，立体感强，可以带辅助设备如EDS，WDS，可以对元素进行分析，主要定性，定量也可以但是一般精度不高；XPS的话，也是表面，可以定性定量  二者区别如是前者观察的厚度更深一点，而且后者特别适用于高分子材料
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