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标题:[未解决]【转载】【求助】XRD配备jade7.0求测量位错密度的方法

  [未解决]本主题悬赏 可用分 1  
happydream[使用道具]
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发表于 2014-11-5 16:23 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

【转载】【求助】XRD配备jade7.0求测量位错密度的方法

我这里XRD实验做好了，用7.0分析，但是不知道怎样得到位错密度。
根据线型，能得到半高宽，平均晶粒尺寸啥的，怎么转换为位错密度，各位高手帮我一下啊
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iop[使用道具]
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发表于 2014-11-5 16:24 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
从FWHM的衍射角度分布分析晶粒尺寸以下的缺陷，不靠谱。
因为信息量本来就不多，而且影响因素非常多。
当然，如果你有高超的制样水平和测试水平，从XRD得到一些和电镜自洽的结果不是没有可能。请参考马普所(斯图)最近的一篇文章，研究层错的，方法学讲得很仔细，其部分参考文献我想对你很有帮助。
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jiankufanhan[使用道具]
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发表于 2014-11-5 16:24 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
看了一些中文文章，有人说可以通过xrd线型分析得到位错密度，但都是模棱两可的得到了，不知道方法，有些傅立叶积分啥的也看不懂，因此想问一下，希望有人能简单明了的告知，嘿嘿。
谢谢大陆兄，我去研读一下这篇文章！
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jiushi[使用道具]
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发表于 2014-11-5 16:25 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
大哥有没有弄懂啊？老板也让我做这个，看了国内外的论文，我是实在搞不懂他们说的啥。
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nmn[使用道具]
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发表于 2014-11-5 16:25 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
我也不知道，同问
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shuishui[使用道具]
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发表于 2014-11-5 16:25 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
jade 7.0 谁有哇?麻烦发一份 869832476@qq.com
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