X-荧光

不知道论坛中有没有用XRF测试过纸张?

我问过帕纳科的工程师，说需要叠个二三十层再测试

纸张是轻基体，如果X射线穿透纸打到后盖，纸张中的元素会被激发吗？

还是直接穿透，只会激发仪器后盖中的元素？

貌似目前了解只有美国加州对重金属纸张有限制 儿童制品中也会存在 但是那么低的检出限 用xrf估计难度会存在的哦 加厚测试也有可能被击穿 不行多叠几层

那所谓被击穿，样品中元素会随后盖一块被激发吗？还是只会激发后盖板的元素？

不管后面有没有后盖，纸张中的重元素都会被激发。
问题是，如果纸张很薄，那么这意味着其中的重元素量很少，则其信号就很弱，这个弱信号叠加在后盖（如果有）的强信号上，你猜猜分析起来很容易吗？
所以帕纳克的工程师意见是对的，不仅要叠厚，还要压实，中间不要有空气。

你用的帕纳克的WDXRF还是EDXRF？分析目标元素是什么重金属？后盖本身的材质是什么？

用的是EDXRF。没有特定的目标，就是想定性扫描一下里面有什么元素，后盖应该是铅板吧。。

你说的很对，纸张上面还需压个重物，防止有空隙。

搞不懂叠加的样品中间有空气，对测定有什么干扰啊？

Minipal?
后盖不是铅板吧，估计就是个不锈钢，我也不知道，你可以向帕纳克的工程师咨询确认。
由于楔形效应的存在，其实你不需要叠到多厚，有个3-5mm厚度就可以了。
不建议通过压重物的方式，建议把纸张裁开，然后用订书机四边订起来，就压实了。
有空气会吸收荧光信号，特别对低能段的信号影响较大。比如Ca，纸张中大多数都会有的，能量才3.7keV左右，过于疏松的样品对Ca荧光信号会有影响，像S、P之类的影响就更大了。
当然你关注重金属，纸张中Pb这类的重金属含量通常不会高于500ppm，建议向帕纳克的工程师咨询，加滤光片测试，否则你很可能除了Ca什么也测试不到。

我用的是Epsilon系列，测量低能量元素，我都是用氦气环境的。

Epsilon，你们真有钱啊

这个是偏振的二次靶，不用什么滤光片，把纸张叠厚了放进去测试就可以了。

不过关于前面提到的楔形效应，你可能需要向帕纳克的工程师咨询一下，这里X射线对样品是斜入射的还是正入射（90°），如果是斜入射，那么考虑到楔形效应，纸张叠厚到3-5mm即可，如果是正入射，可能你的纸张需要再加厚。因为X光对普通纸张的穿透力很强。

谢谢你。X光是下照式，斜入射。