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标题:[未解决]【转载】【求助】XRF融片用上表面测定

  [未解决]本主题悬赏 可用分 10  
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发表于 2014-12-22 13:26 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

【转载】【求助】XRF融片用上表面测定

XRF融片法一直都是用下表面测定，为什么不能用上表面测定，我尝试了下用上表面去测定下（用的是下表面做的曲线），我做的是硅酸盐分析，结果是：其他元素都没啥大影响，就Si的结果有偏差（70-80%的Si测得值偏高1-2%），这是为什么，如果我用上表面做曲线再测定上表面结果会怎样，这样做有意义么？
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熊猫[使用道具]
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发表于 2014-12-22 13:26 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
你先比较一下融片的上下面的平整度再想想有没有意义。
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发表于 2014-12-22 13:27 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

回复 #2 熊猫 的帖子

我想用上表面测定，就是因为我单位的铂金坩埚底部有少量的腐蚀（自己磨平抛光了下），怕不平整有影响，如果上表面能测定准确，那以后都用上表面多好，省的担心。
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铃儿响叮当[使用道具]
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发表于 2014-12-22 13:27 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
你不妨试试看呢  还有你的样品是否均质也很重要  但是结果差了这么多很奇怪哦  不知道是否有别的元素干扰
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小红[使用道具]
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发表于 2014-12-22 13:28 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
上表面不平。我想应该主要是这个造成的。
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small2011[使用道具]
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发表于 2014-12-22 13:28 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
有点腐蚀不要紧，X射线是有穿透性的，能把熔片里面的物质也激发出来，元素越重越能把深层的激发出来，这样表面的影响就相对小了。例如铁镍等金属元素，熔片表面就算很差，影响也几乎可以忽略。这个我是做过测试的。轻元素如镁铝硅可能会有些影响，不过也很小，而且这些元素本来允许误差范围就大。
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发表于 2014-12-22 13:29 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
我有一个猜想，未必正确啊，我感觉浓度梯度在形成融片的过程中其实是难以避免的，考虑到炼钢过程中，熔渣都浮在上面，是不是这个成因类似？
BTW，熔渣成分一般为硅铝酸盐。
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发表于 2014-12-22 13:30 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

回复 #7 小黄 的帖子

炉渣无法跟铁水形成熔体，就像碳酸钙无法溶入水中而形成了沉淀（炉渣比铁水轻所以是浮起的），物相还是多相的。而硼酸盐与氧化物熔融发生化学反应形成的硼酸盐化合物，是单相物质。类似食盐溶于水，形成均匀的溶液（虽然反应原理不同，但现象类似）。
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ay123[使用道具]
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发表于 2014-12-22 13:30 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
我想这个问题主要是怕上表面受到污染，没有其他影响应该，融片本身的成分非常均匀，不会因为测量哪个面而产生变化的。至于说为啥结果差了，我想应该是你的样品平整度不一样，距离光管的距离变化造成的，但是结果应该呈比例的，高含量差得多，低含量差的少
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夜蓝星[使用道具]
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发表于 2014-12-22 13:31 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
上表面哪有下面的平整，测量时会漏缝。
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