X-荧光

大家晒晒，你们从压片法过渡到熔片法后准确度提高了多少？对于市场没有标样的样品能否解决？

问题太泛点啊，呵呵 可能具体到某种样品会更好一点。

说标样吧，粉磨的sio2曲线只能保证10%的范围，超过了就无法保持线性度，融片可以100%

两种方法定性的结论没错，至于定量的结论保持意见！

前者不至于那么窄，后者不至于那么宽。

你的万能曲线我觉得和样品种类还是有关系。

同意啊，这要看检测样品种类啊。比如：我们实验室做地质样品中二氧化硅，用粉末和熔片，定性不用说了。安装设备时给我们做曲线的李国会老师给我们做了个万能曲线，标物有GSS、GSR、GSD系列，对于硅酸盐系列样品熔片准确度相当高，不能说100%和标准值一模一样，但绝对不超差。对于粉末压片硅还可以，但是别的元素检测值会多少的偏高或偏低，比如钾钠和铝。但是对石英岩（二氧化硅大于90%）的归一化后结果和熔片差不过，也不超差。具体样品具体分析，最好多种方法比对，这样才能知道那个最适合和最经济。

具体样品具体对待 本身还跟仪器的硬件有关系 分光晶体也决定你的分析范围 没有好于不好 只是适合就好  跟化学法 差异还是存在的哦

我的融片包含石灰石、砂岩、铁矿、生料、熟料还有高纯物质配的料，够复杂了吧。粉磨的范围是可以适当放宽，但是曲线的标准偏差会随着浓度加大而增大，对分析结果会有影响的