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看表面形貌形态用扫描电镜,样品处理简单,扫描电镜可以直接观察你需要的表面,最好的场发射扫描电镜在1纳米以下分辨率条件下,可以有效观察10nm左右的结构形态形貌(高低起伏几何形状等),钨灯丝扫描电镜在3nm分辨率条件下,可以有效观察60nm以上的结构形貌,都是比较极限的观察条件。
由于电子穿透深度有限,所以使用透射电子一般无法观察大于几个微米厚度样品的表面形貌。
过去用TEM观察钢铁的表面形貌,需要制作复形碳膜,也就是现在样品表面蒸发几十纳米厚碳膜,然后把金属样品腐蚀掉,只留下复制了样品形貌的几十纳米厚的碳膜,然后用TEM观察这个碳膜,可以间接表征块状物体形貌。所以透射电镜基本无法直接观察表面形貌,需要把样品超薄切片或者离子减薄到微米级,才可以进行观察,一般观察的是内部结构的轮廓形态,不会有表面细节。实际上经过超薄处理的样品表面几乎是平的,没有细节,这个样品在扫描电镜下是没有任何形貌反差的,扫描电镜成像信号不会看到内部结构形态。透射电镜分辨率极高,对于几个纳米的结构形态会很轻松表征,进一步可以看到原子晶格排列。整个视场在几个纳米范围内。
如果真需要更加精细的在几十个纳米范围内观察样品形貌,上面的朋友讲的SPM(包括AFM,STM)也是不错选择,但对样品的严格程度和TEM差不多。