【求助】扫描电镜主要观察表面形貌（二次电子像

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标题:【求助】扫描电镜主要观察表面形貌（二次电子像

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发表于 2015-1-29 11:47 资料个人空间短消息加为好友

小中大

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jishiben[使用道具]
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发表于 2015-1-29 11:47 资料个人空间短消息加为好友

小中大

【回复】

透射电子显微镜分辨率比扫描电镜高（如扫描电镜最高1nm，透射电镜0.2nm甚至更高），主要可以进行内部形貌观察，晶体结构分析，特别是微区（微米、纳米）的像观察和结构分析，可以得到原子尺度的像。如配备一定附件，如EDS进行微区元素成份分析，STEM可以得到更容易解释的像，EELS可以进行化学状态分析等等。

兔子[使用道具]
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发表于 2015-1-29 11:48 资料个人空间短消息加为好友

小中大

【回复】

扫描电镜主要观察表面形貌（二次电子像），还可以得到反映成份信息的背散射电子像。扫描电镜还可以接一些附件，如EDS进行元素成份分析；EBDS进行晶体结构分析等等。

yayayu[使用道具]
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发表于 2015-1-29 11:49 资料个人空间短消息加为好友

小中大

【回复】

从样品制备和观察操作来讲，我个人认为SEM较易。

小熊妮妮[使用道具]
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发表于 2015-1-29 11:49 资料个人空间短消息加为好友

小中大

【回复】

TEM比SEM可以看到更为精细的结构！