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标题:【求助】扫描电子显微镜的制造依据是电子与物质的作用

小女人@[使用道具]
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发表于 2015-1-29 11:53 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

【求助】扫描电子显微镜的制造依据是电子与物质的作用

当一束极细的高能入射电子轰击扫描样品表面时，被激发的区域将产生二次电子、俄歇电子、特征x射线和连续谱X射线、背散射电子、透射电子，以及在可见、紫外、红外光区域产生的电磁辐射。同时可产生电子-空穴对、晶格振动（声子)、电子振荡（等离子体）。扫描电子显微镜的制造依据是电子与物质的相互作用。
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huali[使用道具]
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发表于 2015-1-29 11:54 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

【回复】

产生的次级电子的多少与电子束入射角有关，也就是说与样品的表面结构有关，次级电子由探测体收集，并在那里被闪烁器转变为光信号，再经光电倍增管和放大器转变为电信号来控制荧光屏上电子束的强度，显示出与电子束同步的扫描图像。图像为立体形象，反映了标本的表面结构
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青青草[使用道具]
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发表于 2015-1-29 11:55 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

【回复】

为了使标本表面发射出次级电子，标本在固定、脱水后，要喷涂上一层重金属微粒，重金属在电子束的轰击下发出次级电子信号。
原则上讲，利用电子和物质的相互作用，可以获取被测样品本身的各种物理、化学性质的信息，如形貌、组成、晶体结构、电子结构和内部电场或磁场等等。
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jishiben[使用道具]
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发表于 2015-1-29 11:55 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

【回复】

扫描电子显微镜正是根据上述不同信息产生的机理，采用不同的信息检测器，使选择检测得以实现。如对二次电子、背散射电子的采集，可得到有关物质微观形貌的信息；对x射线的采集，可得到物质化学成分的信息。正因如此，根据不同需求，可制造出功能配置不同的扫描电子显微镜。
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兔子[使用道具]
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发表于 2015-1-29 11:56 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

【回复】

光学显微镜（OM）、TEM、SEM成像原理比较是什么
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yayayu[使用道具]
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发表于 2015-1-29 11:56 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

【回复】

由电子枪发射的电子，以其交叉斑作为电子源，经二级聚光镜及物镜的缩小形成能谱仪获得。具有一定能量、一定束流强度和束斑直径的微细电子束，在扫描线圈驱动下，于试样表面 2 材料形貌分析观察作栅网式扫描。聚焦电子束与试样相互作，产生二次电子发射（以及其它物理信号）。
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yayayu[使用道具]
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发表于 2015-1-29 11:57 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

【回复】

二次电子信号被探测器收集转换成电讯号，经视频放大后输入到显像管栅极，调制与入射电子束同步扫描的显像管亮度，得到反映试样表面形貌的二次电子像
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