X射线多晶体衍射（XRD）

不知道可不可行  我是搞环境监测的，采集样品的滤膜是玻璃纤维的滤膜。这是基本的情况，现在领导想我利用E5检测出该滤膜的重金属含量。是定量，不是定性，也不是半定量

面对的问题：1，没有标准样品滤膜。

                        2，滤膜采集不均匀。

                        3，不同基体下的曲线与样品，无法使用。

领导的意思是  采集2个滤膜样品平行。其中一个上ICP-MS监测出数值，确定为标准值，另外一个以标准值，作为E5标准曲线的曲线点。建立曲线。已实现。这样的确是解决了1跟3的问题。另外从理论上说 ，滤膜样品是均匀采集的（可惜实际上不是 呵呵）。所以我无言以对。

大家看看，觉得不可行的给点理由，觉得可行的，给点建议。谢谢了

你领导太任性 你跟他说全球所有的xrf都是定性半定量 何况你是edx 还有测这个滤膜你要叠加起来测 增加厚度 关于建立曲线的事情 你没有标样 用ms来做测量值 来做为参考 也是可行 但是 可能效果不是很好 没有标样的情况还是不太好测

滤膜需要叠加厚度？ 满足不了无限厚吗

另外就算MS能做出来，  可是  平行样的测量面  因为不是均匀了  照射出来的结果 极有可能对不上啊

你不叠加 很容易x射线 穿掉  不均匀 半定量做出来都很难

帕纳科他们的工程师当初用他们带的滤膜来给我们的仪器做了一个曲线。那个标准滤膜样品很薄的啊。当然了  这跟我们的玻璃纤维不一样的材料。玻璃纤维的滤膜需要多厚就不知道了

工程师都给你做好曲线了 你还烦恼啥呢

用过氯乙烯测尘滤膜

那个滤膜样品的标样的材质根本跟我们平时采集空气的玻璃纤维不一样的材质。当初我用ICP-MS对比过数据，差的远。

1.过氯乙烯的滤膜采集样品是否均匀。

2.过氯乙烯的滤膜能否达到无限厚。

你现在不是有了个曲线了么？就用这个条件测试一下均匀性好了，最好不同位置每个位置测试3-5遍。不管这个结果准确程度有多高，用来比较一下不同位置的含量是否一致是没有问题的。
另外，不知道你使用ICP-MS测试的重金属含量值在多少，如果含量特别低的话（比如1ppm不到），E5可能对应不了的。含量在几到几百ppm，需要选择合适的滤光片。