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标题:[未解决]红外光谱测量中，薄膜样品 容易产生干涉现象

  [未解决]本主题悬赏 可用分 10  
shuhao3611[使用道具]
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发表于 2011-1-13 16:14 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

红外光谱测量中，薄膜样品 容易产生干涉现象

在红外光谱测量中，特别是一些薄膜样品，比较容易产生干涉现象，使光谱分析更困难，请教行家指点一下如何去掉这些干扰信号！！！！非常感谢！！！！
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张汝君sandy[使用道具]
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发表于 2011-1-13 16:22 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
把平整的薄膜面打毛了试试看。
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shuhao3611[使用道具]
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发表于 2011-1-13 16:23 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
谢谢回复，但表面薄膜也就是1微米左右，打毛了可能会影响到实验结果，因为用肉眼可见的划痕就是微米量级左右的。
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Tara0416[使用道具]
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发表于 2011-1-13 16:24 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
以前我们是揉一下膜的.
你有ATR吗, 可以试一下,但是与晶体要压实一些.
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Dophin6179[使用道具]
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发表于 2011-1-13 16:26 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
您是用什么方法做的产生干涉的？透射么？

好像偏转一个角度也可以。
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hawel[使用道具]
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发表于 2011-1-13 16:31 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
用的是什么仪器呀，应该保持干燥，防止诸如CO2，H2O等的干扰。
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shuhao3611[使用道具]
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发表于 2011-1-13 16:31 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
我用的是Perkin－Elmer GX型FTIR谱仪，用镜面反射测量，干扰信号集中在500～800cm-1波段，总是去除不掉，不知道什么原因!!!
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