X-荧光

1.    原子结构上，电子离核越远越不稳定，在连续X射线照射时，为什么外层的电子没有击出而是内层的电子击出，外层向内层跃迁才产生特征X射线？
2. 某个角度，满足布拉格公式的某个波长的特征X光在衍射侧相互叠加光线加强才被检测器检测到进而测的其含量，其他波长的光因为不叠加而减弱，所以不被检测到，此是XRF定性的原理吗？假如某个光的波长是另外一个的整数倍的话，在衍射侧也应该是加强的，也应该被检测到，两种元素的特征光混淆了？
3 关于测角仪 测角仪在工作时，只是晶体在转动，对吗？那么晶体在转动时，角度是先从小到大，然后返回，如此Z型往复转动，还是每次都是从小角度转动大角度？方法确定后，每个元素的衍射角是不是都已经告诉仪器了？
XRF新手，欢迎指教讨论，有此方面的专业书籍吗？谢谢

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波长的没接触过，觉的问得太专业了

1、每一层的电子都会被击出，外层电子跃迁回内层时，能量有两种释放途径，X射线与俄歇电子。内层电子能量比较高，更多的以X射线的方式释放，外层电子能量比较低的，更多以俄歇电子的方式释放。个人理解，不一定正确。
2、如果某个波长是另一个的整数倍的话，是叠加的。如果刚好是两倍，是没办法区分的。比如Pb KB与As KA。大多数不是整数倍，可以通过配合不同的晶体与准角器区分开。
3、晶体在转动，探测器也转动，晶体是Theta角，探测器是2Theta角。

同样是新手，相互学习嘛！呵呵，
    1. 原子结构上，电子离核越远越不稳定，在连续X射线照射时，为什么外层的电子没有击出而是内层的电子击出，外层向内层跃迁才产生特征X射线？这个问题是这样的，外层电子离核较远需要它在外层围绕核转动的能量就较高，次外层电子的能量就会相对较低一些，他们的逃逸能不同，各层电子的逃逸能根据元素的不同而不同，拿单波长测硫举例，次外层电子比外层电子更容易被激发，所以我们用X射线激发它的次外层电子，当次外层电子被激发后外层电子进行补缺，从高能级电子层跃迁到低能级电子层一定会释放部分能量才能在次外层电子层远转，我们就定义从外层跃迁到次外层电子所发生出的荧光为硫元素的特征X射线。
    关于第二个问题我们说他不会混淆，拿单波长测硫仪举例，不会混淆的原因是因为我们使用的探测器（检测器）是专门检测针对硫元素被激发后所发射出的硫的特征X射线的探测器，每个元素被激发的时候所发出的X是荧光随元素的不同而不同的，而且是唯一的，所以挑选了针对检测硫元素特征X射线探测器是不会和其他的元素混淆的。
    关于测角仪就不懂了，希望能够帮到你！谢谢！

一、只要X射线的波长足够短，将会激发受激元素的所有线系。但在能够激发最内层电子也就是K层时，则首先的K线的几率最大，谱线强度最高。如果降低X射线的强度，使其不能激发K系谱线，则L系谱线产生的几率最大，外层其它的线系也同样会产生，但其产生的几率较低，所以强度较低。
二、布拉格方程说明，只要级次与波长的积相同，就一定会在相同的角度下出峰，所以是不好分辨的。
三、对WDX来说，样品固定不动，Theta-2Theta扫描，也就是说晶体转Theta角时，探测器要转过2Theta角，永远保持探测器与样品的角度是2Theta。

x射线能量大，产生的ka是能量最大的，也有L、M等，能量小

我觉得5楼和7楼回答的有道理，我理解也是这样的，其他楼层的，我不太苟同

7楼正解！

还是第2个问题，正好是整数倍的意思不就是n*波长=2d sin*角度，中的n么？
这个是用PHA分开的