X射线多晶体衍射（XRD）

XRD谱经过全谱拟合后然后应用谢乐公式可以计算得到晶粒大小，通常在10～1000nm左右。但是在SEM电镜中观察的颗粒大小往往右10μm甚至数百μm。很疑惑，为什么这两个结果差别这么大.翻阅了一些书，说颗粒是由很多的晶粒堆积的，在SEM中看到的颗粒是二次粒子。既然如此，XRD给出的晶粒大小还有什么用呢？还有就是在材料的性能中，晶粒大小和颗粒大小的影响有什么区别呢？请朋友们各抒己见！

这是个好问题
我也又同样的疑惑
老师给解释过
但是没吸收成自己的

有同样的疑惑，希望高手能给讲讲

当然有区别了，颗粒是由晶粒组成的，我们一般看到的是颗粒。

晶粒和物质的许多物理化学性质有直接关系，单晶就是控制条件使晶粒长大，所以晶粒也可控制长的很大。一般的晶粒我们是看不到的，谢乐公式计算的是晶粒大小。颗粒的形成有很多原因，颗粒可能是一个或多个晶粒的团聚体。

从XRD上看，如果峰强且窄说明结晶好，就是说结晶好，晶粒会较大。如果峰弱且宽说明结晶差，晶粒会小。

颗粒是由晶粒聚集而成，也就是说颗粒的大小是晶粒的极限。晶粒越大，结晶越好。纳米材料的晶粒通常远远小于块体材料，并且晶粒和颗粒大小最为接近，或者晶粒成为单个颗粒。那么，纳米材料是不是可以理解为结晶度较低呢？

晶粒是指的单晶，当然如果条件控制好的话，单晶也可以长的很大，不能说颗粒是晶粒的极限。我们见到的石英就是单晶体，可以是很大的，我国制备的单晶硅也可以制得很大。测单晶结构的是用单晶X射线衍射仪，一般的讲我们所作的XRD是多晶或者说是粉未衍射，也可以是说很多小的单晶体组成的。由于晶粒大小对材料的性能有影响，所以在合成材料时经常会控制材料的晶粒大小，纳米材料是一种介于宏观和微观之间的介观体系，有着很多特殊的性能，所以现在是研究的热门。也不能是纳米材料结晶不好，那是因为控制条件不让其长大。另外，晶粒各个方向的生长情况也不一样，从XRD半峰宽计算的晶粒大小是其所对应的衍射面上的平均大小。

受益了！
以前还问过别人！
现在更加理解了！

那我们制备的纳米材料到底期望得到的二次颗粒是纳米级的呢，还是一次颗粒是？