透射电镜之家

对于高分辨晶格像做FFT得到的倒空间中的信息进行标定，是否还要像SAED得到的斑点那样考虑消光呢？
个人感觉不应当考虑了，一些在选区衍射中消光的斑点也会出现。
大家觉得是否有道理？

是需要考虑的，在FFT中可能会出现SAED中消光的和不存在的点，造成这些点有可能是噪声或者斑点相对强度等因素，一般而言，FFT图和电子衍射花样是很相似的，衍射斑点的位置相同，但是相对强度可能差别很大

晶格相的获得本身就是消光后产生的结果。电子衍射斑点未必在晶格相上得到反映（受仪器分辨率的限制），而FFT是在有晶格条纹的情况下获得的衍射。举个例子，衍射斑点（ d1=0.588nm ,d2=0.009nm)。这样晶格相只出现0.588nm的晶格条纹，如果做FFT 其结果就与电子衍射不一样了

就是说，FFT与SAED相比，点可能多也可能少？
多，“可能是噪声或者斑点相对强度等因素”，
少的话就如kaleidoscope所说？

从原理上讲，相位衬度与衍射衬度不同，既然消光是由于衍射强度计算时出现因子为0造成的，那么相位衬度成像做FFT就不会出现消光，是这样吗？

消光是材料本身的特性（结构因子决定的）

FFT衍射斑点只可能少于等于选区电子衍射的斑点

请问有直观的照片参考吗？

理论上如何解释呢？

不见得。应该是只可能多。
例子：GaN （11-20）带轴下0001点knetic消光，然后高分辨FFT变换出来是存在的。
原因分析：
首先，因为相位衬像（或者说晶格像）记录的最后只是强度信息（是个实函数），出射电子波的相位信息已经损失了，因此FFT变换并不跟衍射斑完全对应。
其次，Fourier变换的晶格像（实函数）每一个傅里叶项（复函数）都有强度和相位，其相位表示条纹的相对位置，而强度是相位强度的调制。用这个相位做高分辨strain mapping就是依据的这个。简单的理解只要在图像上存在这个周期性（由于GaN的非中心对称，消光的001晶面依然在晶格像中有贡献），FFT中就会有点。甚至由于一些特定的噪声信号也会出来一些奇怪的调制点。
关于FFT点的强度，通常我们在图上体现出来的是傅里叶项（复函数）的模，因此取决于图像上一些特定条纹周期性的强度，周期性越高，强度调制越小，则FFT点强度越高。而高的周期性条纹则与出射波被电镜传递函数修改的程度。在一张照片里头（只有一个离焦量），某些到空间矢量传递的多（正相位传递，反相位传递或者部分传递）那么在最终的点阵图上强度就大，最终FFT变换之后点的强度就强。
例子：Si （110）带轴高分辨像，通常 两个002点，两个220点和四个111点并不在一个通带上，拍到的照片FFT之后一般最强的111比002和220要强一两个数量级，而实际衍射方面，他们强度并没有查那么多。