干涉仪的工作原理介绍

干涉仪是根据光的干涉原理制成的一种光学仪器,主要是测量光程之差从而测定有关物理量的仪器,根据光束多少可以将干涉仪分为双光束干涉仪和多光束干涉仪两大类。

    干涉仪遇到两束光,遇到任何变化会干涉条纹会非常灵敏地的移动,而某一束相干光的光程变化是由它所通过的几何路程或介质折射率的变化引起,所以通过干涉条纹的移动变化可测量几何长度或折射率的微小改变量,从而测得与此有关的其他物理量。干涉仪采用光、机、电、算结合的系统软件,可打印检测报告,具有性能卓越、操作简便、测试结果直观的特征,还同时测量线性定位误差、直线度误差(双轴)、偏摆角、俯仰角和滚动角。

    干涉仪可用于对长度的精密测量、折射率的测定、波长的测量、检验光学元件的质量,干涉仪适用于工厂、研究所和高校等对光学元件的高精度检测。