X-荧光

为比较试验仪器的一致性，对实验室两台X荧光进行比对，由同一人进行试验，两台荧光都是我们实验室用来测锌层重量的，一模一样。
选一卷生产样镀锌板，冲5个试样，用两台荧光分别测试5个试样上表面的锌层重量，测试结果如下：
样品编号        2#荧光        1#荧光        差值
1        42.5        42.7        -0.2
2        43        43.1        -0.1
3        43.9        44.2        -0.3
4        43.1        43.3        -0.2
5        45.1        45.2        -0.1
荧光试验前标样校正结果如下：
标块标值
仪器       
36.7（g/m2）
57.2（g/m2）
备注
1#荧光
36.8
57.4
标块允许差为0.9，校准结果符合要求。
2#荧光
36.8
57.1
比对计划采用t检验法进行分析，查表t表=2.776，t计算值=10.16，t计算值＞t表，所实验室两台荧光试验结果存在显著性差异。
现在需要分析原因，我脑袋都大了，不知道如何分析了。
1、首先看标块校正结果，偏差很小，符合要求，应该算很准确了；
2、看试验结果的差值，2#荧光确实均低于1#荧光，有一定的系统偏差；
现在有几个问题：
1、同一实验室相同的两台仪器比对，用t检验法去分析合理吗？有没有更合适的统计方法？
2、标块准确，是不是可以说明试验结果的准确度；
3、通过仪器比对的分析结果，如何定义这次比对结果？
4、如果仪器一致性确实存在显著性差异，可能的原因在哪？
请前辈指点指点，不胜感激！

采用秩序法有差距？

这个正常的啊 就是同一品牌仪器测试相同物质也会出现偏差 只要偏差在合理的误差范围内都是可以接受的啊 本事xrf就是半定量分析做不到定量分析 除非你有标样做工作曲线那样才会比较准确

你的问题出现在系统性偏差，假如使用的工作曲线法，就必须使用同样的校正样对工作曲线做校正；假如使用仪器自带的镀层分析软件，就必须对数据库进行校正，至少要保持一致性，才能保证准确度。

以前见过大概“秩序法”这个词，没来得及仔细研究，刚才查了下，没有，是不是字写的有出入？

你好，我们这的荧光都是用标样做的工作曲线，而且每天用标样校正，查看准确度。但是两台仪器还是出现系统偏差，所以不知道从哪下手查找原因进行分析改进。

1同一实验室相同的两台仪器比对，用t检验法去分析合理,
2两台设备存在系统性差异。
3按准确度看，2台分析结果没有问题
4第一台的标样结果偏高，向下校正一下就ok

谢谢！就是说两台仪器准确度良好，符合要求，对第一台设备取现稍微校正一下就行了。

个人认为比对结果蛮好