原子荧光

瞬态荧光光谱是用来测荧光寿命，荧光衰减曲线的，但是荧光寿命成像（FLIM）的时候也能得到各个点的衰减曲线，也能得到荧光寿命。

这两个一样么?能直接用FLIM来做荧光寿命的分析么？求高手指教~不胜感激

荧光寿命成像（FLIM）是什么仪器？

这两种仪器能测的寿命时间相差很大，不能替代的。

前者主要用于（时间）定量测试溶液或固体（皮秒-秒），后者一般主要用来做显微图像的荧光定性（纳秒）

我之前用瞬态荧光测到的衰减曲线和用FLIM测到的好像差别不是很大吗，都是ns级别的，不过FLIM得到的数据很难拟合，非常难处理

打个比方，我们PTi现在做的和显微镜结合的瞬态荧光检测是可以在显微镜视野下测某个小区域的荧光寿命（100ps-10s)和荧光光谱（区域大小和样品本身的发光强弱有关系），可以移动PTI的区域选择模块做不同的点。

而FLIM是通过激光共聚焦（如ZEISS，NIKON等）加上FLIM附件（MCP，TBX快速检测器等），通过快速的逐点扫描的方式检测一个大区域内很多点的寿命，但无法检测时间分辨荧光光谱和稳态荧光光谱。也可测到100PS。但处理和拟合较难

还有一些通过ICCD做荧光寿命成像的。

FLIM 本来就空间点的荧光寿命数据成像数据，所以FLIM通常有 单点荧光衰减曲线采集，多点荧光衰减曲线采集 和 FLIM 采集模式。

你点击FLIM图上的一点，可以获得荧光寿命的表示。

那FLIM图上某点的荧光寿命和用瞬态光谱测得的数据区别大吗？能不能直接当成瞬态荧光光谱用来测寿命

是的，采用FLIM方式得到是每个空间单点的荧光寿命的组合；所以你可以获得该点的荧光寿命数据；当然也可以在这个设备上面采用单点模式直接获得单点的微区荧光寿命数据；

采用通常的瞬态荧光光谱仪测量荧光衰减曲线，其效果是相对宏观区域的荧光寿命数据；

差别在于微区和宏观的差别，数据性质都是荧光寿命。

请问一下，什么地方可以做荧光寿命成像？