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标题:【求助】描电镜测试的10-20nm纳米颗粒的照片

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发表于 2015-5-13 14:41 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

【求助】描电镜测试的10-20nm纳米颗粒的照片

20nm左右的纳米颗粒，分散性不是很好，在TEM里看不清楚，能用SEM的照片说明问题吗？


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2015-5-13 14:41
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malong[使用道具]
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发表于 2015-5-13 14:42 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

【回复】

只要解释合理，数据也不单纯依赖这个，为啥不行呢？
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发表于 2015-5-13 14:42 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

【回复】

哦，谢谢啊，我看文献上20nm左右的颗粒在形貌表征中都是用TEM，而且我听说SEM在照几十纳米的东西可能不是很准确，是这样的吗？
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发表于 2015-5-13 14:43 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

【回复】

多做几次TEM说不定就可以找到好照片，结合你的SEM就能很好的说明问题
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发表于 2015-5-13 14:43 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

【回复】

你这个尺寸的颗粒我感觉应该是TEM下面观察比SEM下面观察好一些，首先是你这样尺寸的样品制备SEM扫面的样品就不太好制备，我估计你这样大的颗粒是溶液法制备的（只是估计），这种情况下，你制备样品的量不可能太多，如果你弄成固相的在弄到导电胶上，感觉样品固有属性就变化很多了，并且一般SEM放大到10万倍可能状态就不太稳定，因为我个人感觉还是用TEM看，再说为什么TEM里面不清楚呢？是聚焦没调好？我个人感觉TEM用起来不SEM好用很多，并且放大倍数的范围也更广一些。
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发表于 2015-5-13 14:44 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

【回复】

TEM的分辨率的确要比SEM高，差不多一个数量级。在20nm 左右的尺度上一般用TEM和AFM比较多
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发表于 2015-5-13 14:44 资料 个人空间 短消息  加为好友 QQ

 小中大

【回复】

呵呵，谢谢你啊！我是用溶液法做的。我们这里做SEM很方便，TEM就要等很长时间才能做一次，不是很熟悉。看来还是得用TEM啊！
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发表于 2015-5-13 14:45 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

【回复】

应该用TEM
20nm的SEM很难调清楚
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发表于 2015-5-13 14:46 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

【回复】

电镜照片够用就行，没必要去追求极致。如果是场发射SEM拍20 nm的东西足够清晰了，如果是钨灯丝扫描，拍出来模模糊糊，那么去做TEM倒是应该。
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发表于 2015-5-13 14:46 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

【回复】

新的sem可以凑合用吧
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