扫描电镜之家

请问各位高手在材料分析中，透射电镜和扫描电镜有什么区别？
在材料的分析方法中透射电镜和扫描电镜有什么区别

TEM是透射电子的成像，SEM是背散射电子或2次电子像，原料都不一样。

区别还是比较大的，看你的需求了

扫描电镜主要是看样品的表面形貌,而且放大的倍数有限,有的号称分辨率达1nm,但20nm的粒子照出来已经很不清晰了.
投射电镜普遍的分辨率较高,
二者的制样方法也完全不一样,扫描电镜无需很薄,小的块或片都可以
而对TEM来讲,粉体还好说,大的块体材料必须减薄,比较麻烦,如果太厚还有自己先手磨
一点体会.

扫描电镜主要是看样品的表面形貌，最好是微米级的，效果比较好尤其是有色院做的比较好，可以放大三十万倍，但是纳米级的粉体最好不用扫描电镜，应该选择透射电镜，同时还可以做电子衍射高分辨率投射等，分析样品的晶面与晶格。

TEM原理是透射，用于分析物相或表面（倍率较高）。
SEM原理是反射，用于分析表面和成分（如果有能谱的话）。

检测内容：一般的TEM可以做形貌分析，物相分析，结构及缺陷分析，以及判定晶体生长方式等等。SEM主要用于样品的表面形貌分析（二次电子），成分分析（背散射电子），以及成分的点线面分析。对于带有能谱或者其他成分分析附件的TEM也可以做成分分析。
制样方法：SEM的样品要求很简单，导电就行，不导电喷碳喷金喷银让他导电；
TEM制备样品很复杂，尤其是对接的样品。新手嘛，做一个好的样品，得至少半个月吧。能在这个时间内完成的都是高手！
还有……
先说这么多

如果介孔材料，孔隙可能用扫描电镜做不出来，因为分辨率不够。但是用透射电镜没有问题，因为在有孔的地方电子透过的多，衬度就出来了

透射电镜能看立体结构，而且放大倍数高；扫描电镜一般看表面结构