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标题:[未解决]用XRD测试晶粒度大小的问题

  [未解决]本主题悬赏 可用分 10  
ice[使用道具]
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发表于 2011-6-24 00:23 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

用XRD测试晶粒度大小的问题

有几个问题向和大家交流一下：
1：大家是测某一个面的晶粒度大小还是算平均晶粒大小呢？
2：为什么算某一个晶面晶粒大小时不要扣除仪器宽画曲线呢？
3：做仪器宽画曲线采用的样品怎么做啊？我这没有这个材料，怎么办呢？
谢谢大家的讨论！！！
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rich[使用道具]
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发表于 2011-6-24 00:25 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
一般算平均
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lucky[使用道具]
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发表于 2011-6-24 00:28 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
2：为什么算某一个晶面晶粒大小时不要扣除仪器宽画曲线呢？


谁说不要?
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发表于 2011-6-24 00:32 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
3：做仪器宽画曲线采用的样品怎么做啊？我这没有这个材料，怎么办呢？

用NIST SRM 660b 或者640 做仪器峰宽. 买不起也可以自己做退火Si粉代替...
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nini[使用道具]
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发表于 2011-6-24 00:33 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
一般是以某一个面为计算。。。。。。。。
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nodoor[使用道具]
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发表于 2011-6-24 00:36 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
打电镜行不
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发表于 2011-6-24 00:38 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
平均的哦
要扣除
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