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标题:[未解决]电沉积金属片样品的XRD分析问题

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发表于 2011-7-24 20:59 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

电沉积金属片样品的XRD分析问题

金属片样品的XRD分析问题：
请问：本人在金属片基底上做了沉积，做金属样品XRD，样品只有0.1mm厚，而玻璃样品架0.2mm厚，对结果有什么影响吗 ?
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ice[使用道具]
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发表于 2011-7-24 21:06 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
这个比较难检测的，太薄了
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rich[使用道具]
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发表于 2011-7-24 21:11 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
如果仪器能检测，玻璃样品不会有影响的，因为玻璃通常是SIO2，就在前面有个大峰（好像10几度），一般不会对你的样品有影响。
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天蓝[使用道具]
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发表于 2011-7-24 21:15 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
0.1mm应该已经够了啊，我原来去找测试的时候，他们说有50um就已经能够看到相了，如果是小角XRD的话，厚度要求更低。
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Andrew[使用道具]
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发表于 2011-7-24 21:20 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
0.1mm可能用平行光（测薄膜）测的话都偏厚了哈。
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发表于 2011-7-24 21:23 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
然聚焦光（粉末）测应该也可以。
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