X-荧光

请教专家一个问题：
两个样品测试XRF，没有样品基体的标线，只有机器里面自带的几种标线。
咨询一下做定性的话该选择什么方法呢？而且做出来的数据该如何进行处理呢？做出的各元素强度如下
还请高人予以指点一二：
元素
Net Int.(cps/uA)
sample1
sample2
S
0.0860
0.2356
Ca
0.2546
0.3569
Si
0.01250
0.1525
Fe
0.8526
7.5456
K
-
0.1578
Ti
-
0.0025
Zn
-
0.2565
Ba
-
1.2345

定性分析，一般是在没有相同基体标样的情况下测试，方法的话FP，SFP法都可以。貌似楼主这个结果只是强度的数据，难以出报告的。

这个数值只要可以接受就可以出

定性半定量做出来的结果误差会很大，只能参考。

定性分析有专用的曲线啊，我们的是帕纳科的Axios，里面的IQ+是半定量的测量，如果你没有的话，随便找一条曲线，只要包含你要测量的元素，测量结果当然偏差很大，但对于定性应该没问题

通常报告的形式会是怎么样子的？报告强度？还是以氧化物的形式报告？如果以氧化物的形式报告，那如何转换为氧化物？

我们用的岛津的EDX-720，里面有定性的方法

那就用定性的曲线检测，测量完了进行峰匹配，会自动计算含量的，结果虽有误差，但作为定性分析没有问题

找个会测的人员，帮你测一下。