透射电镜之家

拍EELS的时候，是得到一个拉长的亮线，然后沿着这个线拉一个profile就得到谱了
这个谱的纵坐标应该是电子的计数，那是整数的吗？
我要把profile导出来，然后重新画图，这个导出来的纵坐标小数点后面都给出了4位啊，那我应该看到哪一位呢？
谢谢！！

全用上就行了，不会有明显误差的。

谢谢！
不过我要做比较精确的定量，我，我都试试好了
那这个数据的误差怎么得来呢？误差函数？

纵坐标的数值对你的定量精度不会有影响。

谢谢！我还想问一下，EELS需要分峰吗？

你对EELS的定量计算好象不是很清楚。建议先看些书，不要贸然做。

我关注的是过渡金属的L2，3边，在Leapman, R. D. and L. A. Grunes (1980). "Anomalous L3 L2 White-Line Ratios in the 3d Transition Metals." Physical Review Letters 45(5): 397.这篇文献里有提到，“For Ti where overlap occurs, we use an iterative procedure to find the peak shapes. ”所以我想问一下。

那个没用。过渡族金属的白线比例异常是multiplet效应造成的，不是简单的两个峰叠加。就算你把它分成两个峰，也没有实际的意义。你看一下Frank de Groot写的综述。

可是，L2，3不是反映3d未占据态的吗，这样也没有意义了？我看了一些文献是这样说的，还有Ahn编的那本书里也说到了
“Even at relatively poor resolutions of 1-2 eV the total white line intensity can be used as a measure of d state occupancy for the transition metals”

这个说法没错，但是要注意是“total white line intensity”。从原子物理的角度来说，L3和L2的比例应该是2对吧？但是实际上不是2。分峰处理往往是用在多个相信号共存的情况，比如XPS里面常用这种方法，因为探测到的信号是很多种物质混在一起的。物质之间相互不影响，只是信号混在一起了。但是EELS的信号通常是从单相得到的，现象看起来类似，起源不同。用分峰方法处理白线强度，得到的结果没意义。