X射线多晶体衍射（XRD）

XPS谱图的纵坐标是表示单位时间内测得的光电子数目，如果同一个元素测得两个谱图中的单位时间内光子数目不一样多，有一个多（假设为A），另一个少（假设为B）？，而此元素的B.E.峰是都出现的，这能说明什么问题？能说明A比B中的此元素多吗？

我想问的问题补充的说明一下：

就是纵坐标中的基数是否能说明一些问题，比如同时铁元素，在一个表面测得的谱图纵坐标基数较大，而在另一个面测得的谱图纵坐标基数相对较少，两个谱的Fe的B.E.值是一样的，基数大小的差异能说明什么问题？

不能简单的在两幅图中比较峰面积的大小来判读那个样品的一种元素含量多少；样品的表面粗糙度，光电子探测角度，X射线功率大小、通过能等都会影响计数比。并且，通常XPS定量为相对定量，在同一图谱中，选定几个元素确定一种元素的相对含量。但是，如果所有的条件都能保持一致，也可以做一系列标准样品进行绝对定量，此时不同图谱中同一元素的峰面积才有比较性。

在 XPS 图谱中一般来说有 (1)光电子 (2)俄竭电子 (3)二次电子 (4)仪器本身噪音



图谱中所呈现的是4种讯号加总得出来的线图. 以你的问题,两个图是在同一仪器上做的话,基本上第(4)仪器噪音就可以不管.



而你说如看到2个同时带 Fe 的样品基数结果不一样,那麽图谱中肯定可以找到还有其他元素态的不一样.因为样品表面上有什麽元素或其厚度等等都会影响 以上(1)(2)(3)的讯号,其中特别是(3)是你所看到的基数的主要来源.你可以单纯想像说基数高可能某程度代表你的样品因为某些原因二子电子的 yield (产出量) 很高.



很快的一个例子是如果你是金属(如Fe)样品但表面有薄薄的一层污染(C+O),那麽这时候基数就会很高.如溅射清洁之後基数就会下来了.

那我能从那些数据中得到什么呢？或者说能说明什么呢？谢谢

可以每张图算一下相对含量，然后比较相对含量多少。