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字体: 小 中 大 | 打印 发表于: 2015-8-19 16:04 作者: bhka 来源: 分析测试百科网
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原帖由 ujne 于 2015-8-19 16:08 发表 有就自己做下,ATR不需要制样,但是能量较弱,压片法需要自己制样,但一般的谱图能量较好
最新回复
zhezhe (2015-8-19 16:05:20)
baidukk (2015-8-19 16:05:43)
bhka (2015-8-19 16:07:29)
okhaha (2015-8-19 16:07:45)
因为一般ATR附件本身对红外也有损耗,故低频端无法测到很低,比如一般ZnSe,Ge晶体的都只到700cm-1左右,如果你要求从400cm-1开始,比如药学领域,那么就不适用了。
粗浅认识,如果不对还请指点,我也在学习红外中。
dhpbj (2015-8-19 16:08:15)
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你可以自己先试一下ATR和压片,有这讨论的工夫你可以多去试一下,有了数据,你自己心里慢慢就有底了
自己不做,只听别人说,你是不会有深刻印象的
ujne (2015-8-19 16:08:52)
shenkunjie (2015-8-19 16:09:39)
QUOTE:
现在ATR的能量还是可以的啊。xevin (2015-8-19 16:11:27)
woshi (2015-8-19 16:11:46)
jude (2015-8-19 16:13:55)
kewanqi2011 (2015-8-19 16:14:59)
【求助】选择压片还是ATR?