原子吸收

原子吸收光谱仪与原子吸收分光光度计的区别

当有辐射通过自由原子蒸气，且入射辐射的频率等于原子中的电子由基态跃迁到较高能态（一般情况下都是第一激发态）所需要的能量频率时，原子就要从辐射场中吸收能量，产生共振吸收，电子由基态跃迁到激发态，同时伴随着原子吸收光谱的产生。

基于样品中的基态原子对该元素的特征谱线的吸收程度来测定待测元素的含量。
一般情况下原子都是处于基态的。当特征辐射通过原子蒸气时，基态原子从辐射中吸收能量，最外层电子由基态跃迁到激发态。
原子对光的吸收程度取决于光程内基态原子的浓度。在一般情况下，可以近似的认为所有的原子都是处于基态。
因此，根据光线被吸收后的减弱程度就可以判断样品中待测元素的含量。

基于样品中的基态原子对该元素的特征谱线的吸收程度来测定待测元素的含量。
一般情况下原子都是处于基态的。当特征辐射通过原子蒸气时，基态原子从辐射中吸收能量，最外层电子由基态跃迁到激发态。
原子对光的吸收程度取决于光程内基态原子的浓度。在一般情况下，可以近似的认为所有的原子都是处于基态。
因此，根据光线被吸收后的减弱程度就可以判断样品中待测元素的含量。

原子荧光光谱分析
《原子荧光光谱分析》讲述了利用原子荧光谱线的波长和强度进行物质的定性与定量分析的方法。原子蒸气吸收特征波长的辐射之后，原子激发到高能级，激发态原子接着以辐射方式去活化，由高能级跃迁到较低能级的过程中所发射的光称为原子荧光。当激发光源停止照射之后，发射荧光的过程随即停止。
原子荧光光谱法是通过测量待测元素的原子蒸气在辐射能激发下产生的荧光发射强度，来确定待测元素含量的方法。
气态自由原子吸收特征波长辐射后，原子的外层电子从基态或低能级跃迁到高能级经过约10-8s，又跃迁至基态或低能级，同时发射出与原激发波长相同或不同的辐射，称为原子荧光。原子荧光分为共振荧光、直跃荧光、阶跃荧光等。
发射的荧光强度和原子化器中单位体积该元素基态原子数成正比，式中：I f为荧光强度；φ为荧光量子效率，表示单位时间内发射荧光光子数与吸收激发光光子数的比值，一般小于1；Io为激发光强度；A为荧光照射在检测器上的有效面积；L为吸收光程长度；ε为峰值摩尔吸光系数；N为单位体积内的基态原子数。
原子荧光发射中，由于部分能量转变成热能或其他形式能量，使荧光强度减少甚至消失，该现象称为荧光猝灭。

原子荧光光谱分析
《原子荧光光谱分析》讲述了利用原子荧光谱线的波长和强度进行物质的定性与定量分析的方法。原子蒸气吸收特征波长的辐射之后，原子激发到高能级，激发态原子接着以辐射方式去活化，由高能级跃迁到较低能级的过程中所发射的光称为原子荧光。当激发光源停止照射之后，发射荧光的过程随即停止。
原子荧光光谱法是通过测量待测元素的原子蒸气在辐射能激发下产生的荧光发射强度，来确定待测元素含量的方法。
气态自由原子吸收特征波长辐射后，原子的外层电子从基态或低能级跃迁到高能级经过约10-8s，又跃迁至基态或低能级，同时发射出与原激发波长相同或不同的辐射，称为原子荧光。原子荧光分为共振荧光、直跃荧光、阶跃荧光等。
发射的荧光强度和原子化器中单位体积该元素基态原子数成正比，式中：I f为荧光强度；φ为荧光量子效率，表示单位时间内发射荧光光子数与吸收激发光光子数的比值，一般小于1；Io为激发光强度；A为荧光照射在检测器上的有效面积；L为吸收光程长度；ε为峰值摩尔吸光系数；N为单位体积内的基态原子数。
原子荧光发射中，由于部分能量转变成热能或其他形式能量，使荧光强度减少甚至消失，该现象称为荧光猝灭。

原来我看错了
说的是原吸和原荧的区别

楼主说的是一种仪器
叫法不同

光谱仪”和“分光光度计”是同一类仪器，但是“光谱仪”的名称之前是不需要冠之以“分光”的，因为要想得到光谱，就必须分光。光度计可以是积分光度计（光强计），不需要分光；一旦分光，它就是“光谱仪”。
另外，“光谱仪”和“分光光度计”的结构区别是：“光谱仪”分光不需要扫描（如CCD光谱仪），工作速度快；“分光光度计”分光需要扫描，工作速度慢。

不同说法而已。

1、就我所知，原子吸收分光光度计和原子吸收光谱仪是同样的仪器，只是说法不同。原子吸收的原子化器后端是有分光系统的，用光栅分光。虽说光源（空心阴极灯）发出的是锐线光源，但由于材料不纯等原因也会有其他波长，还有其他一些原因引入的光（具体我也不是很清楚），所以还是需要分光的。
3、个人觉得，分光光度计是光谱仪的一种。红外最初就是红外分光光度计，也是有类似光栅的元件分光的（具体不记得了），后来发展出了傅里叶变换红外光谱仪，信噪比等各项指标都有非常大的提高。现在的商品化红外基本都是傅里叶的了，所以就简称红外。但是红外分光光度计和傅里叶变换红外光谱仪是不同的