扫描电镜之家

检测背散射电子时，会同时出现原子序数忖度像和形貌寸度像，将其分离时用到2个检测器，这2个检测器对原子序数信息产生的背散射电子信息相同，而对形貌信息互补。
        那么这2个检测器各自工作原理是什么？有什么差别？为什么对形貌信息互补？

相对高深些，不是专门做这个方面的人很难回答，因为大家一般就是去用，原理可以问问操作人员或者工程师

又是你啊   不是很懂你要问什么 你是问显示形貌衬度和成分衬度时电子怎么被检测器检测的原理嘛？

分离原子和形貌忖度同时用到了2个检测器，这2个检测器分别放置在样品表面的法线2侧，成对称关系。我要问这2个检测器为什么对形貌信息检测结果互补对原子信息检测结果相同？
又是我，哈哈哈

关于你说的问题我好像真的不懂，我就把我记得的说一下啊 ，刚刚想看书，发现书上好像没讲，SEM里面检测二次电子和背散射电子有两个检测器，检测背散射电子的检测器外面带的是负电，所以小能量的二次电子不会被收集到，背散射电子能量一般较高嘛，然后收集二次电子的检测器在收集电子入口加的是正电，至于怎么排除背散射电子或者要不要排除我就忘记啦 因为不知道是不是你要的 所以我就不要你金币啦 等下看看能不能画个图给你

你可以看下我另一个关于DTA的问题，^_^

对于要检测样品表面的形貌和成分的样品，一般会采用双探头检测系统，因为背散射电子还是和形貌有点关系的，因此对于双探头来说，面对斜面的探头肯定得到更多的电子，背对的更少，对于总量来说，是不是互补的（简单的想散射的电子全部被这两个接受啦，当然，肯定没有全部收到），这两个探头得到的电子量分别都可以表现物体成分衬度，但是双探头更好的一点在于他们两个加起来得到的衬度图像更准确，而两个相减就是表面形貌图像啦(为什么是形貌就讲不来啦，自己理解)。:victory:  求给金币  话说DTA的也可以了吧  是不是也该给金币了啊  Mr.张啊

据我所知 应当是背散射反映原子序数 二次电子反映形貌啊   楼主是否搞反了