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标题:【求助】关于XPS分峰标准的确定

u76mp[使用道具]
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【求助】关于XPS分峰标准的确定

做过几次XPS,也学着对窄谱进行分峰处理,但是在处理过程中有一些疑问迟迟没能得到解决,希望懂行的高手给一些解释:
1.在分峰的时候,如何确定峰的半峰宽;
2.各个拟合峰的半峰宽如何确定,半峰宽是要大致相等吗?
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555444[使用道具]
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我觉得这个问题不太容易解答,应该说没有统一的标准。就拿c1s来说,不同的机器做出来的峰的宽度是不一样的,一般取决于光源的强度和单色性。比如,对于同一样品同步辐射出来的峰肯定比实验室出来的窄个至少2ev,所以一般sp2c,我们用的半峰宽范围1.0-1.2就不一定合适了,我个人觉得0.8-1.0比较好,在差一点的一起可能峰就更宽了,亦可能到2ev......我觉得对某一个机器,还是找找熟悉那个机器参数和性能的人比较好,单纯和文献对比没啥意义(但是峰的个数还是固定的)。我在国外以前见过一本书,上面写的一般常见的峰的半峰宽是多少,总体来说C 0-1.4,N1.2-1.6, O1.2-1.6吧,我也记不清了,也不一定对。
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SO2[使用道具]
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不是先确定半高宽的,而是先确定有多少个峰,打个比方,你拟合C的时候,根据材料看,明明有C-C,C-O,C=O三个键,那你就分三个峰,对应好结合能,慢慢调这三个峰的半高宽,应该是接近的。
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u76mp[使用道具]
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原帖由 SO2 于 2015-12-15 15:10 发表 bbcodeurl('http://bbs.antpedia.com/images/common/back.gif', '%s')
不是先确定半高宽的,而是先确定有多少个峰,打个比方,你拟合C的时候,根据材料看,明明有C-C,C-O,C=O三个键,那你就分三个峰,对应好结合能,慢慢调这三个峰的半高宽,应该是接近的。 ...

也就是说先要根据材料制备过程中表面可能存在的官能团,再结合其他表征手段,来确定峰的数目。但是很多时候如果我们不能够准确判断峰的数目,那应该怎么办呢?
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quiqui008[使用道具]
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期待专业讲解。现在好多文献XPS分峰都是错的。
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我也正在分析,希望高手具体讲解一下,如果元素有三种价态,怎么确定有三个峰或者只存在两个?
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#碧海潮生#[使用道具]
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QUOTE:
原帖由 u76mp 于 2015-12-15 15:10 发表 bbcodeurl('http://bbs.antpedia.com/images/common/back.gif', '%s')

也就是说先要根据材料制备过程中表面可能存在的官能团,再结合其他表征手段,来确定峰的数目。但是很多时候如果我们不能够准确判断峰的数目,那应该怎么办呢? ...

结合红外、拉曼等数据,确定材料表面的基团种类,到标准能谱中找到相应的结合能,分峰原则是拟合时拟合程度与原数据要匹配。
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mamamiya[使用道具]
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QUOTE:
原帖由 #碧海潮生# 于 2015-12-15 15:12 发表 bbcodeurl('http://bbs.antpedia.com/images/common/back.gif', '%s')

结合红外、拉曼等数据,确定材料表面的基团种类,到标准能谱中找到相应的结合能,分峰原则是拟合时拟合程度与原数据要匹配。

如果用拉曼,红外确定了集团种类,也就确定了化学价,也能半定量的确定含量,再用XPS去测量不觉得重复了吗?
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DCS[使用道具]
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如果用拉曼,红外确定了集团种类,也就确定了化学价,也能半定量的确定含量,再用XPS去测量不觉得重复了吗?...

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方法相互验证,另外XPS测的是表面的,光谱学测得是体相的,得到的信息也是互补的
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plaa[使用道具]
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如果用拉曼,红外确定了集团种类,也就确定了化学价,也能半定量的确定含量,再用XPS去测量不觉得重复了吗?...

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拉曼、红外表征用于确定元素的存在形式(非元素价态),原位手段可以作为半定量分析,而XPS可以较好地分析元素价态、不同元素存在形式的含量
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