小中大回复 #7 jkh123 的帖子
不见得。应该是只可能多。
例子:GaN (11-20)带轴下0001点knetic消光,然后高分辨FFT变换出来是存在的。
原因分析:
首先,因为相位衬像(或者说晶格像)记录的最后只是强度信息(是个实函数),出射电子波的相位信息已经损失了,因此FFT变换并不跟衍射斑完全对应。
其次,Fourier变换的晶格像(实函数)每一个傅里叶项(复函数)都有强度和相位,其相位表示条纹的相对位置,而强度是相位强度的调制。用这个相位做高分辨strain mapping就是依据的这个。简单的理解只要在图像上存在这个周期性(由于GaN的非中心对称,消光的001晶面依然在晶格像中有贡献),FFT中就会有点。甚至由于一些特定的噪声信号也会出来一些奇怪的调制点。
关于FFT点的强度,通常我们在图上体现出来的是傅里叶项(复函数)的模,因此取决于图像上一些特定条纹周期性的强度,周期性越高,强度调制越小,则FFT点强度越高。而高的周期性条纹则与出射波被电镜传递函数修改的程度。在一张照片里头(只有一个离焦量),某些到空间矢量传递的多(正相位传递,反相位传递或者部分传递)那么在最终的点阵图上强度就大,最终FFT变换之后点的强度就强。
例子:Si (110)带轴高分辨像,通常 两个002点,两个220点和四个111点并不在一个通带上,拍到的照片FFT之后一般最强的111比002和220要强一两个数量级,而实际衍射方面,他们强度并没有查那么多。