X-荧光

大家讨论一下上照式和下照式X荧光光谱仪的区别，优缺点

下照射长期做粉末压片样不具优势。上照射做液体样不好

那么总体来看，哪个好呢？我们主要做粉末压片样，本来打算买上照射的，但是又听说上照射的精度没有下照射的好（热电），现在很迷茫，如果仅是一个上照射的不会污染光管的话，其他的参数都不如下照射的话，我们多花那么多钱买上照射的就没有必要了

没听说分析精度上也有差别。
退一步讲，技术有差别，我想相对于你的粉末压片样来说，仪器的误差要小于你的制样误差的

对应WDXRF来说，上照式和下照式是按照试样照射方式来分的，上照式是X射线管在分析样品的上方，样品分析面向上；下照式是X射线管在分析样品下方，样品分析面向下。
上照式最大的优点在于分析粉末压片、疏松粉末和液体样品时，样品破损不会损坏X射线管，但上照式结构装样、卸样比较麻烦，需要一套复杂的机械进样装置，上照式荧光分析仪样品到X射线管的距离每次都需要定位，如果出现误差的话会对分析结果产生很大的影响；
下照式不需要复杂的进样装置，样品到X射线管的距离固定，下照式结构更加有利于空间的利用，但下照式结构最大的问题在于破损的样品会污染X射线管，造成较大的损失。
可以说这两种方式各有利弊，国内用户使用上照式WDXRF的要比下照式的多些
如果你主要做粉末压片样，因为粉末容易脱落、破损，可以考虑选择上照式的

分析精度与样品、仪器性能有关，应该与照射方式没什么关系吧。
不过对于液体样品来说，液体因受热产生上升的气泡，如果用上照式的仪器测量的话会影响精度的，而下照式的因为分析面向下就可以避免这种情况。

上照射分析液体不光是安全方面的考虑吧，更重要的一点，液体的表面往往是凹的，或者是凸的，而非平面，这不利于测量。据我所知，如果测试液体的话，还是用下照射的比较好。

那么上照射时这个定位是机械做的还是人为的？定位出错的频率高吗

其实主要是从 仪器样品方便与卫生的角度来考虑的啊 ，没有其他因素。
下照用压片担心的问题是样品掉渣或者其他东西污染而已 。但是对测量液体很好，液体因照射升温，上表面液面不太稳定。所以照下表面。
反之，上照式就明白了啊。

仪器自身有定位功能的，不需要操心，而且定位出错的频率是非常低的，一般不用担心这个