原子发射(ICP）

ICP的仪器检出限(IDL)和方法检出限（MDL）该怎么测量？？

我这标准上写的是以下这样的:

仪器检出限(IDL):试剂空白 10次重复测量的 3倍标准差。CPSC工作人员使用的 ICP-OES对铅的 IDL为 0.01 μg/ml。

方法检出限（MDL):试剂空白加上 2~3倍 IDL。进行 7次重复测量。按照下述方法计算 MDL。MDL = t × S，t = 3.14（7次重复测量的
置信区间为 99%），S = 标准差。计算出 Pb的 MDL为 0.01 μg/ml。

现在的问题就是测量仪器检出限的时候，要作曲线么？ 还是直接开机，预热，新建方法，直接测量。

测量方法检出限就是要作我平时用的曲线测么？

检出限不需要每次测试的时候都做。

不做曲线能定量吗？

要做曲线，ICP检定规程里面有测仪器检出限时有要求

建议楼主参考检定规程和你使用的仪器的说明书来做

不同的国家组织对检出限的定义不同，找到理论根源就行了

仪器的灵敏度是动态的，即检出限也处于变化之中，以至检测限的测量，每次做曲线是必要的

一般仪器的出厂检出限都验收合格后，以后很少有变化太多的时候，除非你的透镜，检测器，光路出现了问题。

实际工作中，进样系统异常问题时有发生，以至仪器的期间核查一般为半年一校，同样是从曲线做起，完成各项检定规程中的指标

这个好像有ISO定义吧。应该是一样的吧