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标题:[未解决]安捷伦ICP-OES 的IEC元素间干扰校正系数这项功能？

  [未解决]本主题悬赏 可用分 10  
nanopony[使用道具]
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发表于 2012-2-27 15:53 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

安捷伦ICP-OES 的IEC元素间干扰校正系数这项功能？

各位，谁应用过安捷伦ICP-OES 的IEC元素间干扰校正系数这项功能啊？能讲讲吗？
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fjdlgldg[使用道具]
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发表于 2012-2-28 13:31 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
没有亲自用过，不过看过一些资料。
IEC是用于校正直接的光谱重叠，使用一个干扰的校正因子对每个分析进行浓度校正。在设置IEC前需要知道是什么干扰，测定干扰IEC 是基于背景校正点上，并且它假设干扰与浓度是线性关系，从而应用系数来校正。

不过个人觉得还是通过机体匹配和选择无干扰谱线更简单易行。
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nanopony[使用道具]
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发表于 2012-2-28 13:33 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
我看仪器里的方法要先用分析元素做标准曲线，然后在用干扰元素做标准曲线，然后再用分析元素做标准曲线，我不明白这三条曲线在测试时分别起什么作用，您有这方面的资料吗？
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maicaixiaogu[使用道具]
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发表于 2012-2-28 13:39 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
我的想法和2楼基本一致；只是有一点需要补充一下，使用IEC的话需要同时测定各干扰元素的浓度，干扰元素的浓度往往比较高(远远超出日常分析所用工作曲线的线性范围)，数据可能测不准，在校正因子绝对值较大的情况下对校正效果有影响；稀释的话，如果待测元素灵敏度不高则又是一个问题。

使用干扰元素做标准曲线是为了量化干扰元素对待测元素的干扰，楼主确定还有第三步么？PE的IEC也就是前两步...
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bing0421gs[使用道具]
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发表于 2012-2-29 17:38 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
确定，我用的是安捷伦的ICP-OES，前两步我理解，就是第三步不理解
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