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标题: X荧光分析原理 [打印本页]

作者: rmhot 时间: 2012-12-3 08:50 标题: X荧光分析原理

关键词：环境化学分析标准物质    煤炭石油成分分析和物理特性测量标准物质    工程技术特性测量标准物质物理特性与物理化学特性测量标准物质土壤标准物质
      以一定能量的光子、电子、质子、α粒子或其他离子轰击样品，将物质原子中的内壳层电子击出，产生电子空位，原子处于激发态。外壳层电子向内壳层跃迁，填补内壳层电子空位，同时释放出跃迁能量，原子回到基态。跃迁能量以特征X射线形式释放，或能量转移给另一个轨道电子，使该电子发射出来，即俄歇电子发射。另外还可能存在几率较低，主量子数相同，角量子数不同，亚壳层间电子的Coster-Kronig非辐射跃迁。测出特征X射线能谱，即可确定所测样品中元素种类和含量。
当原子中K层电子被击出后，L层或M层的电子填补K层电子空位，同时一定几率发射特征X射线。L→K产生的X射线叫Kα系，L层有三个子壳层，允许跃迁使Kα系有两条谱线1Kα和2Kα。M→K产生的X射线叫Kβ系，M层有五个字壳层，允许跃迁使Kβ有1Kβ，3Kβ，5Kβ三条谱线。当原子中L层电子被击出后，M→L跃迁产生的X射线叫L系。
X荧光分析中激发X射线的方式一般有三种：
（1）用质子、α粒子或其他离子激发；
（2）用电子激发；
（3）用X射线或低能γ射线激发。
轻便型仪器常用放射性同位素和X光管作激发源。X光管是通过加热阴极K发出的热电子在阴、阳极间高压电场加速下，轰击阳极A产生X射线的。
测量特征X射线常用()SiLi探测器，它的能量分辨率高，适用于多元素同时分析，也可选用()GeLi或高纯Ge探测器。本次实验使用的是用正比计数管作探测器的X荧光分析系统，如图1所示。为防止探测系统中脉冲叠加，除适合选择放射源强度外，前置放大器和主放大器要有抗堆积措施。激发源为X光管，样品被激发出的特征X射线，由探测器进行检测。按入射光子的能量高低转换成相应幅度的电脉冲输出，这些电脉冲经过放大、成形等信号处理过程后，将其幅度变换成数字量进行技术分类，并输出到显示器上。

作者: weipudashu 时间: 2013-12-13 10:37 标题: 常温磷化液配方还原、成分检测

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作者: 13880416070 时间: 2019-5-6 13:40 标题: 欢迎加入X荧光技术交流群，QQ群号：704472286

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