要判断是表面还是掺杂我觉得很难,XPS一般测表面深度2-5nm的范围,这个范围内只要有铜就都能扫出来,而某个价态的元素其结合能都是一个范围而不是一个严格的值,所以微量的偏移说明不了问题。或许你可以通过掺杂前后XPS谱中Ti 2p结合能的变化来做个间接推测。要判断是不是氧化亚铜可以看你的Survey谱,看里面只有C Cu O Ti等元素,那一价铜就可以推测是氧化亚铜了。当然这样还是不太严密,不知道你的XRD怎么样,如果XRD理想的话你这两个问题都可以说明。作者: mico_11 时间: 2013-6-11 17:41