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标题: 请教:氧气会不会氧化固定液而导致固定液流失? [打印本页]

作者: jianghai    时间: 2010-7-3 10:04     标题: 请教:氧气会不会氧化固定液而导致固定液流失?

最近在学习顶空进样,发现一个小问题。顶空进样时进入柱子的应该大部分都是空气,因为挥发性物质毕竟是少部分,空气中又有大量的氧气,这个氧气会不会氧化固定液而导致固定液流失?记得书上说,5ppm的氧就会对柱子有致命的伤害.

不知道我这个想法对不对?大家拍砖。
作者: zxlyid    时间: 2010-7-4 09:48

顶空进样确实有空气中的氧进入柱子。

“长时间暴露在氧气中是有问题的。短时间地暴露在氧气中如注射空气或拿掉隔垫螺帽时不会有什么问题。”----摘自安捷伦GC故障排除/维护。
作者: jianghai    时间: 2010-7-4 09:52

长时间和短时间 也没有一个明确的界限。是不是?
作者: zxlyid    时间: 2010-7-4 09:57

短时间暴露指例如顶空进样,在较低柱温下不关机,更换隔垫,衬管等。
作者: michael_b_rex    时间: 2010-7-4 10:05

其实也有这样的顶空,先除去内部空气,这样便可以消除氧的影响了!这就是气体置换功能!
作者: haohaorenjia    时间: 2010-7-4 10:09

顶空进样器在设计的时候完全可以考虑到这个问题
技术上应该改可以解决吧
作者: swn_nyve_vb    时间: 2010-7-4 14:34

顶空,先除去内部空气,用氮气充入等方法的主要目的是消除氧对待测组分的影响,而与顶空进样关系不大。
作者: fqdfi32    时间: 2010-7-4 14:36

可以考虑分流,减少空气浓度
作者: aasle    时间: 2010-7-5 09:29

柱子被氧化损坏,跟柱温有较大的关系,顶空进样带进去的空气一般不会影响到柱子的寿命,毕竟真正进到柱子里的是少部分,而且,顶空进样,一般来说柱温不会选择太高。不过也期待技术改进。不过要跟柱子的价格比较,看那样跟划算了。
作者: jianghai    时间: 2010-7-5 10:46

这个不现实吧,如果分流了,岂不是进样量也小了?灵敏度肯定就降下来了。 这个方法不妥!

这个气体置换功能在技术上可行,不过对进样装置的构造是不是有特殊要求?

或许症结所在就是柱温的问题,因为一般情况下分析溶剂残留的柱温都比较低,或许微量的氧气在低温下对柱子的伤害很小,如果是高温的话,估计固定液氧化的会严重一些。个人观点!
作者: ttkl533    时间: 2010-7-5 10:54

是的.利用双通道双流路方式,就可以实现了!

这个问题说明了传统意义的顶空技术的双面性,一方面能提高方法分析灵敏度,另一方面却会增加对 GC的不良影响因素.这就得看我们注重哪一方面了!
    当然,要消除氧对GC的影响,就得用气体置换方式,先把顶空瓶内的空气用载气置换出去,但这又会出现一个问题,顶空方法分析的都是易挥发的物质,常温下都会挥发出来,也就是说在置换的时候,或多或多地会把我们需要检测的组分也带出去一部分(与挥发性成正比)
   这就要看我们注重的是哪一个方面了!对于气体置换功能,如果征对容易氧化的组分来说,是有利的!因为在加热的情况下,待测的组分很可能在加热完成后就完全氧化了,这时候气体置换带出去的那部分组分算不了什么!
  
   总之,任何技术的运用,都得区别对待,有取有舍!选择利益最大化的一面.

[ 本帖最后由 miracle 于 2010-7-5 18:14 编辑 ]
作者: zxlyid    时间: 2010-7-6 09:38

柱子好象对氧没有那么敏感,我们实验室顶空法做了8年的水中卤代烃,SE-54的毛细柱也用了8年,做样柱温80度,对比8年前的谱图和现在的谱图,柱效基本没有变化。

另外,楼上几位对“气体置换方式”的说法不准确,这种方式不是置换顶空瓶内空气,实际操作的时候,先把顶空瓶装满水样,塞好,插入长短两个针头,长针头的针尖定位到顶空瓶上需要的刻度,短针头穿过塞子一点点就可以,短针头通入氮气,多余水样从长针头排出,直到需要的刻度,立即拔出两个针头。这样操作可以避免置换时损失样品。
作者: woaifou    时间: 2010-7-6 09:39

这种方式 类似变压器油中溶解气体分析法的取样方式, 但是只适用于液体样品的取样.  如果样品是固体,就不合适了.同时, 个人感觉,在顶空瓶密封好后  再用氮气来吹扫样品上部的空气 会使部分挥发性组分损失, 如果确实需要排除空气,还是在封装样品的时候 直接在有氮气保护的空间里密封比较合适.
楼上几位所说的"气体置换的方式", 不太适合.
作者: zxlyid    时间: 2010-7-6 09:45



QUOTE:
原帖由 woaifou 于 2010-7-6 09:39 发表 bbcodeurl('http://bbs.antpedia.com/images/common/back.gif', '%s')
这种方式 类似变压器油中溶解气体分析法的取样方式, 但是只适用于液体样品的取样.  如果样品是固体,就不合适了.同时, 个人感觉,在顶空瓶密封好后  再用氮气来吹扫样品上部的空气 会使部分挥发性组分损失, 如果确实需 ...

你没有明白我的意思,我说的气体置换方式,就是用来避免氮气吹扫样品上部空气的,氮气进入顶空瓶但并没有出来,出来的是瓶中多余的水样,挥发性组分怎么会损失呢?你说的“封装样品的时候 直接在有氮气保护的空间里密封”,操作可比这个复杂多了。



上个图你仔细看看是怎么操作的。
作者: 老徐SIR    时间: 2010-7-24 08:45

关于这个问题,我来谈谈个人的一些看法:
氧气对系统的损害主要有三个方面:1、进样口的硅烷化玻璃管,损害硅烷化表面;2、对柱子的损害;3、对检测器的影响。
这要分开来看:1、在进样口的时间非常短,所以关系很小,我们用的顶空三年也没换衬管,证明这方面基本不用考虑。2、氧气对柱子的损害是有条件的,只有在温度超过一百五十度才有影响,而一般顶空做样分析条件起始柱温都比较低,而氧气基本上很快就从柱子上过去了,所以关系不大,而有的柱子起始温度可能较高,如PLOT柱,氧气不会破坏这类柱子。3、氧气只对象ECD这样的检测器有影响,对FID没有损害。
既使这样,仪器设计时也有考虑到将氧气尽量少的进入系统,如有的公司是采用平衡管取样的,进样前先将一定压力载气(如氮气)压入顶空瓶再平衡输出,这样能尽量降低氧气含量。




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