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标题: 绝对精品：二次离子质谱分析（SIMS）讲义 [打印本页]

作者: amelican_beauty 时间: 2010-10-16 11:23 标题: 绝对精品：二次离子质谱分析（SIMS）讲义

　　二次离子质谱

　　(Secondary Ion Mass Spectrometry 简称 SIMS)

　　一、简介

　　二、离子与表面的相互作用

　　三、溅射的基本规律

　　四、二次离子发射的基本规律

　　五、二次离子质谱分析技术

　　六、二次离子分析方法

　　七、二次离子质谱的研究新方向

　　八、总结

　　SIMS的主要特点：

　　1. 具有很高的检测极限

　　对杂质检测限通常为ppm，甚至达ppb量级

　　2. 能分析化合物，得到其分子量及分子

　　结构的信息

　　3. 能检测包括氢在内的所有元素及同位素

　　4. 获取样品表层信息

　　5. 能进行微区成分的成象及深度剖面分析

资料下载地址：二次离子质谱分析（SIMS）讲义

作者: uwku58h 时间: 2010-10-16 14:43

资料不错，谢谢共享！

作者: thereyoube 时间: 2010-10-16 14:45

支持分享，一起进步。。

作者: hongyankongjian 时间: 2012-5-18 14:38

下载学习一下，谢谢分享

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