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标题: 【转载】【求助】icp与aa结果不一致如何取舍 [打印本页]

作者: 小牛牛    时间: 2014-12-19 06:27     标题: 【转载】【求助】icp与aa结果不一致如何取舍

我们用aa和icp测同一个样品中的铅,aa数据是22.8和23.2ppm,用icp测的结果是12.6和11.3。请问各位大虾遇到这种情况如何取舍数据?是什么原因导致这种情况发生?谢谢各位大虾帮忙分析一下!
作者: ay123    时间: 2014-12-19 06:28

该样品是什么材质啊?AA与ICP用的是同一套曲线吗?
作者: a456    时间: 2014-12-19 06:28     标题: 回复 #1 小牛牛 的帖子

相关这么大,用的是同一套标线吗?测的是什么样品?
作者: 小猫    时间: 2014-12-19 06:29

你们ICP-OES和AAS做过比对吗?比对结果理想吗?
测试结果相差确实有点大,很难取舍,可以从以往的比对或测试中找出取舍的依据。
或者测试一下标准样品,看看那个设备数据更可信。
作者: jkh123    时间: 2014-12-19 06:29

具体什么样品?样品谱图如何?工作曲线?
作者: ayanyang    时间: 2014-12-19 06:30

这么看起来是一半呀,你确定没有搞错?我们之前同一个样品做过对比,结果是有点差异但是没你们这么离谱的。
作者: 熊猫    时间: 2014-12-19 06:30

测的什么样品?
作者: 小黄    时间: 2014-12-19 06:31

是不是样品基质太复杂干扰的原因?个人感觉ICP抗干扰能力更强一些,做做标准物质和加标回收看
作者: 小红    时间: 2014-12-19 06:32

应该是基体太复杂的原因,正常来说不会差这么多,试试标准加入法
作者: 龙泉    时间: 2014-12-19 06:32     标题: 回复 #7 熊猫 的帖子

我们测的是金属样品。
作者: jkh123    时间: 2014-12-19 06:33     标题: 回复 #10 龙泉 的帖子

金属样品干扰比较大,楼主可以上样品测试谱图看看
作者: 大学习    时间: 2014-12-19 06:33

以前听说过这种情况,基体复杂的话,扣背景就很重要了。仔细看下ICP的扣背景是不是合理啊
作者: 大学习    时间: 2014-12-19 06:34

曲线是不是直接用Pb标液,直接测出金属中Pb的结果?有没有匹配的QC?
作者: ay123    时间: 2014-12-19 06:34

AAS什么波长啊,283?ICP的呢?怀疑是铁基样品。
作者: 红旗渠    时间: 2014-12-19 06:34

这个要看详细情况。
以前测金属样品中的铅,出现这种情况,以AA为准。
作者: jom    时间: 2014-12-19 06:35

一般说来,AA的背景和化学干扰会大些,后者会抑制AAS信号。ICP的光谱干扰严重些。因此,如果要作客观比较,AAS应该做完善的背景校正,而ICP则要确保光谱干扰校正方法的正确。
另外,样品的物理干扰也会有影响,GFAAS把样品在石墨管理完全原子化,而ICP则要通过启动雾化器,因此,样品的物理性质可能也会导致结果的不同。
作者: 铃儿响叮当    时间: 2014-12-19 06:36

没错,如果是同一套标准,同一个样品(处理后最终上机样品)应该不至于有这么大差距,ICP你选了几个波长,有没有可能会是光谱干扰。
作者: a456    时间: 2014-12-19 06:36     标题: 回复 #17 铃儿响叮当 的帖子

光谱干扰或基体的影响都有可能。
作者: 小黄    时间: 2014-12-19 06:37

关注下AA的背景和ICP的峰形
作者: jkh123    时间: 2014-12-19 06:37     标题: 回复 #19 小黄 的帖子

简单的说基体,光谱干扰的问题
作者: 铃儿响叮当    时间: 2014-12-19 06:38     标题: 回复 #18 a456 的帖子

我的前提是标准同一套,样品也是同一个,咋还有什么集体影响
作者: nsdm    时间: 2014-12-19 06:38

至少有一个结果是错的
作者: jkh123    时间: 2014-12-19 06:39     标题: 回复 #22 nsdm 的帖子

这是肯定的,主要是如何判断
作者: nsdm    时间: 2014-12-19 06:39     标题: 回复 #23 jkh123 的帖子

说不定两个结果都有问题,简单的判断就是带相似控制标样。看哪个更接近,再找原因分析。
作者: jkh123    时间: 2014-12-19 06:40     标题: 回复 #24 nsdm 的帖子

那也可以啊!
作者: a456    时间: 2014-12-19 06:41     标题: 回复 #21 铃儿响叮当 的帖子

标样的基体与样品的基体不同。
作者: 铃儿响叮当    时间: 2014-12-19 06:41     标题: 回复 #26 a456 的帖子

这个当然不能做到完全基体匹配,但是两台机子用一样地标准,一样的样品基体影响基本可以忽略
作者: 小熊猫    时间: 2014-12-19 06:42

样品的信息,测试的过程都发上来吧,最好带上原始的数据和图谱。有了这些才好去说。
作者: a456    时间: 2014-12-19 06:42     标题: 回复 #27 铃儿响叮当 的帖子

基体对于同类型的仪器来讲,是可以忽略,但对于不同类型的仪器来讲,没有做相关对比,不清楚。
作者: 小牛牛    时间: 2014-12-19 06:43

楼主用什么波长?不同的波长干扰不一样。金属样品,光谱干扰很严重,AA的结果更准确点,还是选AA的吧。
作者: 小红    时间: 2014-12-19 06:43

请问为什么是以AA为主呢?其原理和道理能说一下吗?
作者: 夜蓝星    时间: 2014-12-19 06:44

做质量控制  就知道咋办了
作者: 龙泉    时间: 2014-12-19 06:44

用標準加入法確認

排除ICP光譜干擾與AA基質干擾後再來比
作者: 坚持2011    时间: 2014-12-19 06:45

用ICP多选几条谱线试试
作者: 但是    时间: 2014-12-19 06:45

坐等大神们发表观点,学习学习。
作者: tomm    时间: 2014-12-19 06:46

基体太复杂就不能用标准加入法吧
作者: 铃儿响叮当    时间: 2014-12-19 06:46

做下加标回收
作者: small2011    时间: 2014-12-19 06:47

个人觉得应该取AA的结果,如果用的是一套标液的话
作者: jkh123    时间: 2014-12-19 06:47     标题: 回复 #38 small2011 的帖子

有AA做比较还是好些,不过事实都是建立在论证上,可以采取一些措施就是版友们讲的
作者: jkh123    时间: 2014-12-19 06:48     标题: 回复 #34 坚持2011 的帖子

有时候其它一些谱线干扰还是存在的
作者: momom    时间: 2014-12-19 06:48

金属的材质也分很多种的,比如铁和铝就不一样




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