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标题: 【求助】谱仪进行能谱分析 [打印本页]

作者: 小熊妮妮 时间: 2015-1-22 14:36 标题: 【求助】谱仪进行能谱分析

TEM是做材料微观组织分析，比如说孪晶啊、马氏体啊、位错啊等等，SEM一般是做面扫描，也可以配能谱仪进行能谱分析，比如说断面形貌，组织观察，元素百分比等等。

作者: 双子座 时间: 2015-1-22 14:37 标题: 【回复】

其实本质上还是原理不一样，造成应用上的差别
另外补充一下
做TEM的样比SEM的样要复杂很多~

作者: zouyou 时间: 2015-1-22 14:38 标题: 【回复】

TEM是做材料微观组织、晶体结构分析；
SEM主要用于表面形貌观察，亦可通过能谱检测局部元素组成与含量

作者: zouyou 时间: 2015-1-22 14:38 标题: 【回复】

SEM 观察材料表面信息
TEM 观察材料内部信息

作者: efp 时间: 2015-1-22 14:39 标题: 【回复】

TEM是做材料微观组织分析，比如说孪晶啊、马氏体啊、位错啊等等，SEM一般是做面扫描，也可以配能谱仪进行能谱分析，比如说断面形貌，组织观察，元素百分比等等。
补充：透射电镜做晶体结构分析较好，扫描电镜做表面形貌和成分分析较好。

作者: 兔子 时间: 2015-1-22 14:39 标题: 【回复】

透射电镜是利用透射电子来成像的，为此样品制作比较麻烦，需要做的很薄。可以TEM检测来判断材料的内部空间结构。比如得到衍射花样，再通过标定，可以得到其为面心，体心，是否有孪晶等。
扫描电镜主要是利用二次电子成像，以获取材料的表面形貌。通常扫描的附件会带有能谱仪，通过特征射线获取材料的成分分布情况，另外扫描电镜可以观察端口形貌。

作者: jishiben 时间: 2015-1-22 14:40 标题: 【回复】

扫描电镜就扫表面
透射电镜电子束透过
透射的放大倍数高
扫描的好分析
透射可以分析结构
扫描只能看形貌

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