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标题: 【求助】能谱仪能量分辨率低，经常遇到峰位重叠的情形 [打印本页]

作者: zouyou 时间: 2015-3-6 14:51 标题: 【求助】能谱仪能量分辨率低，经常遇到峰位重叠的情形

一般做能谱时，取回的数据是已经分析好的图谱、元素浓度比例结果，可是因为能谱仪能量分辨率低，经常遇到峰位重叠的情形，比如Si Ka1 (1.740KeV)与Ta M(1.710KeV)，在谱线上根本分不出来

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作者: 钻石 时间: 2015-3-6 14:52 标题: 【回复】

之前在沈阳开会时问到UCLA Irvine分校的郑建国教授同样的问题。他的解答是可以用分峰拟合，针对轻元素可以采用EELS（电子能量损失谱）分辨效果较好

作者: danzi 时间: 2015-3-6 14:53 标题: 【回复】

没有做过相关的工作，但是Ramman光谱以及部分吸收光谱中经常用到分峰拟合的分析方法
感觉这里应该也可以吧

作者: wwwh 时间: 2015-3-6 14:53 标题: 【回复】

lz可以看看其他的峰，是否含有硅。如果不行，就做XPS和XRF，这是最直接的。

作者: 青青草 时间: 2015-3-6 14:54 标题: 【回复】

如果仅是看是否含有钽或是硅则可以用别的元素分析方法，比如ICP-OES。但是若想知道XPS谱峰相近元素的化合价则不太容易判定了

作者: 大花猫bb 时间: 2015-3-6 14:54 标题: 【回复】

已经做过XPS了，的确为Si，但做这个成本高呀！

作者: 兔子 时间: 2015-3-6 14:55 标题: 【回复】

用高斯分峰的拟合方法

作者: wwwh 时间: 2015-3-6 14:56 标题: 【回复】

虽然可以用高斯函数拟合分离，但EDS本来的能量分辨率也就100多eV，而Si Ka1 为1.740KeV，Ta Ma1为1.710KeV，只差30eV，人为地把Si从Ta峰揪出来，到底有没有意义？(当然XPS已经确认含Si了)

作者: zouyou 时间: 2015-3-6 14:56 标题: 【回复】

这个不太好弄
我弄的也有重叠

作者: daomei 时间: 2015-3-6 14:57 标题: 【回复】

如果有Ta的话，那么它在8.04，9.17，和1.33处也应该有峰吧。如果这几个地方都没有可以确定没有Ta。

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