标题:
薄膜XRD测量问题,BRUKER D8 FOCUS 能否做掠入射小角衍射?
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作者:
bin
时间:
2011-5-25 14:49
标题:
薄膜XRD测量问题,BRUKER D8 FOCUS 能否做掠入射小角衍射?
想请教各位一个问题。我想测一个薄膜的结构,薄膜厚度(~30nm),
在XRD(D8 FOCUS)上测了,只有衬底的峰。
经过查阅,对于薄膜XRD测量应该用小角衍射(原理还没弄清楚),
我想问下BRUKER D8 FOCUS XRD能否做掠入射小角衍射?
作者:
nini
时间:
2011-5-25 14:53
测薄膜一般要配Göbel镜,否则强度可能太弱。
作者:
nodoor
时间:
2011-5-25 14:57
Bruker D8 FOCUS能做小角衍射,但不明白“对于薄膜XRD测量应该用小角衍射”出自何处?你想测什么呢?“薄膜的结构”指的是物相还是多层膜的次序或表面及界面粗糙度?做薄膜研究既可以通过反射也可以通过掠射。反射主要适合300-400 nm厚以下多层膜及薄膜,可测膜的厚度、膜及衬底的密度、表面及界面粗糙度、膜的次序,对样品定位及入射光束的准直要求较高;掠射可测多层膜及薄膜的物相分析、晶粒大小测定、薄膜次序及择优取向测定。
作者:
真善美
时间:
2011-5-25 15:01
我想测的是薄膜的物相和择优取向。小角衍射和掠入射衍射有区别吗?
是不是Bruker D8 FOCUS能做小角衍射,但不一定能掠射测薄膜物相?薄膜厚度大概在30nm左右。
作者:
boss
时间:
2011-5-25 15:04
小角衍射和掠射衍射没什么区别,着重点都是X-光入射角度很低。
作者:
No.1
时间:
2011-5-25 15:14
很强大,学习了
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