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标题: 【求助】阻抗分析仪测压电厚膜的介电常数 [打印本页]

作者: yazi 时间: 2015-8-26 13:59 标题: 【求助】阻抗分析仪测压电厚膜的介电常数

请问各位，知道怎么用阻抗分析仪测压电厚膜的介电常数吗

作者: wwwh 时间: 2015-8-26 14:00 标题: 回复

测C-F曲线，转化为介电常数

作者: efp 时间: 2015-8-26 14:00 标题: 回复

测电容，再根据平板电容器公式转换为介电常数
测试很简单，用探针台接上你的样品上下电极，再将探针台连在阻抗分析仪上，扫频即可
计算的前提是你得知道电极面积和样品厚度

作者: 小熊妮妮 时间: 2015-8-26 14:01 标题: 回复

谢谢楼上的相助，但是想问一下，所用的厚膜上了一层银电极，厚膜刷在硅基板上，那还用涂下电极吗？

作者: aaby 时间: 2015-8-26 14:02 标题: 回复

一般硅基片上会溅射一层Pt电极作为底电极，也用用其他材料做底电极的

作者: 大大 时间: 2015-8-26 14:02 标题: 回复

嗯，谢谢楼上了，好像是有一层底电极

作者: 蓝色雨梦 时间: 2015-8-26 14:03 标题: 回复

和测量体材料是一样的，镀上电极，通过电容值计算介电常数。

作者: xgy412 时间: 2015-8-26 14:03 标题: 回复

感觉楼上好懂哦！我还想问一下，介电常数和介电损耗出现峰值说明什么了呢

作者: 青青草 时间: 2015-8-26 14:04 标题: 回复

我晕，你做这个是干什么用的啊？出现峰值，说明居里温度，即铁电相转变为对称相了。

作者: 小熊妮妮 时间: 2015-8-26 14:04 标题: 回复

是频谱中出现小峰，很小的峰，而且有的峰向上，有的峰向下，是怎么回事呢

作者: yazi 时间: 2015-8-26 14:05 标题: 回复

干扰引起的峰。没什么特殊意义。

作者: 小熊妮妮 时间: 2015-8-26 14:06 标题: 回复

我有一个问题哈：测铁电如果将铁电粉末使用浸渍或旋涂到FTO上，再在上表面镀电极，这么测量可以么？
好像大家都是用上下表面相同的金属电极，样品方面也是外延沉积膜，没见过那么做的，可能那么做有问题，也可能是看得少罢，请指教啊:arm:

作者: yuanyuan 时间: 2015-8-26 14:07 标题: 回复

指教不敢，你的做法太理想化了。粉末之间不致密，损耗较大，不能准确测量。

作者: wwwh 时间: 2015-8-26 14:07 标题: 回复

想问一下，厚膜上电极涂金属需要把整个厚膜面都涂上金属吗？

作者: aaby 时间: 2015-8-26 14:08 标题: 回复

不需要，一般是做点电极，直径大概两百微米，这样一个试样上会有多个测试点，便于重复测试或不同类型的测试，比如测阻抗谱、I-V等。

作者: 小女人@ 时间: 2015-8-26 14:08 标题: 回复

谢谢了！但是要是涂点电极，对于厚膜来说，厚膜涂在基板上不是本身有一层底电极吗，那厚膜的上下电极的面积就不一致了，这样影响吗？

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