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标题: 【转载】【求助】X荧光高含量样品如何稀释 [打印本页]

作者: 但是 时间: 2015-9-22 14:49 标题: 【转载】【求助】X荧光高含量样品如何稀释

X荧光光谱分析中遇到高含量样品怎么办？还想用X荧光做如何稀释呢？？求教各位达人

作者: ayanyang 时间: 2015-9-22 14:50

X荧光光谱分析的优势在高含量，是什么样品还想用X荧光做如何稀释呢？具体点，探讨一下

作者: 小红 时间: 2015-9-22 14:50

楼主应该说清楚具体做什么？大家可以讨论下

作者: 铃儿响叮当 时间: 2015-9-22 14:51

用XRF测高含量得逞分尸一般不需要做稀释，否则也会带来不必要的麻烦

作者: 但是 时间: 2015-9-22 14:51

是测Nb Ta 的几个样品，先做了个半定量，有一个样品半定量的结果都到了30%，我是用土壤标准做的曲线，最高一点才是Nb 300ppm Ta 573ppm。测了好几回高含量的Nb Ta ，Nb还可以，Ta 低含量和高含量的曲线斜率都不一样，郁闷的很，求教各位。。。

作者: 但是 时间: 2015-9-22 14:52 标题: 回复 #2 ayanyang 的帖子

是测Nb Ta 的几个样品，先做了个半定量，有一个样品半定量的结果都到了30%，我是用土壤标准做的曲线，最高一点才是Nb 300ppm Ta 573ppm。测了好几回高含量的Nb Ta ，Nb还可以，Ta 低含量和高含量的曲线斜率都不一样，郁闷的很，求教各位。。。

作者: 但是 时间: 2015-9-22 14:52 标题: 回复 #4 铃儿响叮当的帖子。

是测Nb Ta 的几个样品，先做了个半定量，有一个样品半定量的结果都到了30%，我是用土壤标准做的曲线，最高一点才是Nb 300ppm Ta 573ppm。测了好几回高含量的Nb Ta ，Nb还可以，Ta 低含量和高含量的曲线斜率都不一样，郁闷的很，求教。。。

作者: 小熊猫 时间: 2015-9-22 14:53

貌似你这样稀释样品的方法也不对啊，最好另外选择一组标样做曲线

作者: 熊猫 时间: 2015-9-22 14:53

你不应该稀释呀，高含量才能测准呀，你需要改变分析曲线测量范围，就是人工+入的方式，千万不能用土壤等不同基体的曲线分析，会有很大的误差的。

作者: 但是 时间: 2015-9-22 14:54 标题: 回复 #9 熊猫的帖子

曲线里是要加入纯物质的标样吗？样品也是土壤按说与曲线标准基体相仿，只是含量太高，超出曲线最高点很多了

作者: 但是 时间: 2015-9-22 14:54 标题: 回复 #9 熊猫的帖子

求教，人工加入是指陪标准曲线吗？请详细说明

作者: 熊猫 时间: 2015-9-22 14:55 标题: 回复 #1 但是的帖子

如果采用粉末压片法，可以考虑+入铅、钡等重吸收剂，以此降低其强度，如果用熔融法就简单了。

作者: 熊猫 时间: 2015-9-22 14:55 标题: 回复 #5 但是的帖子

你的样品是啥基体的？可能与标准样品不一致造成的吧？

作者: 熊猫 时间: 2015-9-22 14:55 标题: 回复 #10 但是的帖子

我劝你，首先采用熔融法，对生产样品进行定值，然后用其作为校准样品来建立压片的工作曲线来分析生产样品，这样就克服了矿物及粒度效应。

作者: 但是 时间: 2015-9-22 14:56 标题: 回复 #14 熊猫的帖子

多谢指教

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