分析测试百科

标题: 【求助】透射电镜可以测出平均粒径吗 [打印本页]

作者: PP熊 时间: 2015-10-26 12:08 标题: 【求助】透射电镜可以测出平均粒径吗

透射电镜可以测出平均粒径吗？用透射电子显微镜观察氧化铁纳米微粒，可以测出粒径大小分布及平均粒径吗？

作者: 钻石 时间: 2015-10-26 12:09 标题: 回复

TEM测出来的都是不准确的（因为需要自己选择后手工估算），准确的要用粒度分析仪或Zeta电势仪或DLS

作者: xiaoxiaojinglin 时间: 2015-10-26 12:09 标题: 回复

可以，但很可能因为取的区域总是相对整体太少，所以整体可信度不如动态光散射。

作者: yazi 时间: 2015-10-26 12:10 标题: 回复

动态光散射等精确度高？
为什么一般文献都是用tem做分析呢。

作者: aaby 时间: 2015-10-26 12:11 标题: 回复

最简单粗糙的方法就是在图中画一条线，将线的长度除以晶粒个数就是粒径

作者: xiaoxiaojinglin 时间: 2015-10-26 12:11 标题: 回复

用电镜测出来的根本就不是原来形貌，用什么手段测量都没用的。
你想想你的制样方法，他是要滴在铜网上干燥后才观察的，都不知道发生了什么情况，测出来也不知道是不是你样品的原始形貌。
最好是做原位的测量，比如粒度仪或Zeta电势仪，同意2楼的。

作者: 大花猫bb 时间: 2015-10-26 12:12 标题: 回复

按照这位的意思就是TEM都不用做了
那些发TEM图片来表征形貌的都是骗人的？

作者: 大嘴猴 时间: 2015-10-26 12:12 标题: 回复

可以用统计的方法，多照一些照片，然后统计。可以说明一些问题的

作者: efp 时间: 2015-10-26 12:13 标题: 回复

对于粒径比较小的纳米级颗粒，粒度仪是不适用的，只能用TEM，但问题是代表性，要尽量照颗粒分散好而且多的区域，多拍一些照片算平均值，结果还是可以的，我们做过这样的工作，和XRD结果差距不大，前提是单晶纳米级颗粒，一些纳米材料国家标准中也有规定TEM粒径测量方法，好像要求一个照片中量不低于100个颗粒算平均值，如果材料分散性好就用软件直接计算，分散的不好就手量吧

作者: 小妖精@ 时间: 2015-10-26 12:14 标题: 回复

当然不行了，制样得到的都是分散较好的，粒径较小的，这个平均粒径没有任何价值！

欢迎光临分析测试百科 (http://bbs.antpedia.com/)