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标题: 【转载】【求助】XRF熔片法测试SAPO-34分子筛 [打印本页]

作者: jiushi 时间: 2015-11-6 15:10 标题: 【转载】【求助】XRF熔片法测试SAPO-34分子筛

如题，接到某项目要求开发SAPO-34分子筛的分析方法，SAPO-34主要含有Al2O3、P2O5、SiO2，少量K2O和Na2O。

初步尝试了一下熔片法，做标线时，发现仪器测试各标样的P元素计数率跟对应百分含量不成正比，比如P含量50%的，计数率为30，而P

含量30%的计数率也为30，做出的标线线性很差，是熔片的方法问题吗，求教各位XRF大神，应该怎么进行熔样方法研究呢？多多感谢！

作者: jiushi 时间: 2015-11-6 15:12

先说说你用的熔融条件吧。再传个曲线图看看，有图更好判断问题。

作者: adg 时间: 2015-11-6 15:13

先说说你用的熔融条件吧。再传个曲线图看看，有图更好判断问题。

作者: ass 时间: 2015-11-6 15:13

什么材料这高的磷？ P的话，锆对其有干扰，你这里面不含锆。我们测磷也是不准，另外单独建的标曲

作者: shuishui 时间: 2015-11-6 15:14

磷在熔融过程中一般是不会损失的。

是不是样品间脱模剂加入量不统一导致的，通道扫描时加入Br或者I通道试试

作者: happydream 时间: 2015-11-6 15:31

试过融片条件了，温度高点或者低点P的计数率没有太大的变化，时间长点或短点也没太大变化。粉末压片也试过，测试结果很不稳定，忽高忽低。。。

作者: teddy 时间: 2015-11-6 15:32

脱模剂加入量是一致的，这个可以保证？请问Br或者I对P有干扰吗？

作者: vbnm 时间: 2015-11-6 15:32

脱模剂加入量是一致的，这个可以保证？请问Br或者I对P有干扰吗？

作者: 艰苦奋斗 时间: 2015-11-6 15:33

你能给合金熔片及X荧光测量的方法给我传过来吗？

作者: 风往尘香 时间: 2015-11-6 15:34

你能给合金熔片及X荧光测量的方法给我传过来吗？

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