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标题: 【转载】【求助】关于STEM和TEM下位错称度的问题 [打印本页]

作者: nsdm 时间: 2015-12-3 20:38 标题: 【转载】【求助】关于STEM和TEM下位错称度的问题

都说相对TEM，STEM（ADF-STEM 和 BF-STEM）下的位错的称度对偏移矢量s不是那么敏感，即位错称度受s的变化影响较小。想请教一下各位大神这是为什么？
我上网查了一下，貌似说STEM是会聚束（convergent beam），属于 incoherent imaging，受相称度（phase contrast）影响小，受聚焦（defocus）影响大。而TEM是平行束（parallel beam），属于coherent imaging，受相称度（phase contrast）影响大。还请各位大神详解。小弟不胜感激！

作者: 坚持2011 时间: 2015-12-3 20:38

你说的上下两段文字说的不是一个事情。
上面说的偏移矢量s是TEM衍射衬度成像的一个参数，跟电子coherence没有什么关系。
下面说的TEM和STEM的比较是那么回事，但是跟位错衬度差别的关系不是那么回事。下面说的TEM是对HRTEM或者其他的相位衬度TEM来说的。
而通常在TEM里头观察位错，确定b矢量，最有用的还是衍射衬度（明暗场成像），HRTEM对未知的位错成像几乎起不到什么大的作用。
可以参考W&C的电镜书的26,27两章（TEM位错），以及这个文献（HAADF 位错衬度）Perovic, D. D., Howie, A. & Rossouw, C. J. On the image contrast from dislocations in high-angle annular dark-field scanning transmission electron microscopy. Philosophical Magazine 67, 261–282 (1993).
另外，pennycook的书也有很多理解STEM衬度的基本理论。

作者: nsdm 时间: 2015-12-3 20:39 标题: 回复 #2 坚持2011 的帖子

谢谢你的回答！那请问我上面说的哪个问题，为什么对于STEM, TEM下位错称度相对s的变化更为敏感？

作者: 小黄 时间: 2015-12-3 20:40

这主要是由于STEM和TEM 的工作原理的不同，s是倒易情况下得一个参数，主要适用于平行或者近平行光条件下
STEM比较类似扫描，用的是会聚束，在样品上进行逐点的扫描，所接收到信息反映的立体感比较强，但是对于内部的结构的微变化或者是局部畸变并不明显
TEM则用的平行光或近平行光模式，所获得信号对于局部的畸变反应比较明显

作者: 铃儿响叮当 时间: 2015-12-3 20:40

对于高角HAADF-STEM，收集到的信号主要是非相干的thermal diffuse scattering电子，所以对s不敏感。在STEM模式下，改变相机常数，用ADF探头接受低角散射的弹性电子，也可以用来观察位错。
Diffraction contrast STEM of dislocations: Imaging and simulations。

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