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标题: 【转载】【求助】TEM 能拍出纳米粒表面电荷的差异吗 [打印本页]

作者: 夜蓝星 时间: 2016-1-9 14:48 标题: 【转载】【求助】TEM 能拍出纳米粒表面电荷的差异吗

我是药剂专业的，从没拍过TEM。请问一下，带正电荷和负电荷的纳米粒，在TEM下有差异吗

作者: 龙泉 时间: 2016-1-9 14:49

这个问题比较深了建议去搜一下vertex beam看看有没有相关介绍

作者: a456 时间: 2016-1-9 14:50

我做的纳米粒，吸附氨基和羟基，分别带上正电和负电，二者好像没观察到什么区别。。。。

作者: ay123 时间: 2016-1-9 14:50

目前电镜分辨率也只是到亚埃尺度，电子尺度的信息不可能。而且你不能用电子看电子呢

作者: ayanyang 时间: 2016-1-9 14:51

电子是微小的，电场电势是长程的。

作者: jkh123 时间: 2016-1-9 14:52

药剂专业的，能有这样的疑问，有想法

作者: jom 时间: 2016-1-9 14:53 标题: 回复 #2 龙泉的帖子

我没有经验，只是听过一些报告的体会。Vertex beam 能做，可是设备要求很高，那个选择vertex的栅格都得特制的，不是一般的电镜都常规性配置的东西。我觉得holography应该能做出来。能做holography的机器应该要多的多了。
测静电势，曾经听过ASU 的Fernando A. Ponce 介绍用holography准确测量 N-族半导体自发极化电场的报告，一台CM200 带biprism 电镜而已，工作之细致令人惊叹。
参考文献：
F. A. Ponce, Annalen der Physik, 1 January 2011, Vol. 523 (1-2), pp 75-86

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