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标题: 【转载】【讨论】金属样品的测试 [打印本页]

作者: 铃儿响叮当 时间: 2016-1-18 21:09 标题: 【转载】【讨论】金属样品的测试

对于合金中微量成分的测试，大家一般会遇到那些问题？
背景过高导致谱线干扰；基质的记忆效应明显，影响后续其他样的测试……
大家来谈谈吧！

作者: ay123 时间: 2016-1-18 21:09

比较常见的就是金属中铁元素对铅的干扰问题，这个比较普遍

作者: 铃儿响叮当 时间: 2016-1-18 21:10 标题: 回复 #2 ay123 的帖子

金属基质谱线多，背景大时谱线的强度也大，经常会影响此谱线附近的待测元素的谱线。铜对铅见过很多。

作者: small2011 时间: 2016-1-18 21:10

不知道用标准加入法能否完善之

作者: 龙泉 时间: 2016-1-18 21:11

如果是PE的，试试msf

作者: ay123 时间: 2016-1-18 21:11 标题: 回复 #4 small2011 的帖子

可能不一定能解决，谱线的干扰

作者: ay123 时间: 2016-1-18 21:12 标题: 回复 #5 龙泉的帖子

MSF与FACT还是有区别的！

作者: 龙泉 时间: 2016-1-18 21:13 标题: 回复 #7 ay123 的帖子

是的，瓦里安的Fact与PE 的IEC类似

作者: 夜蓝星 时间: 2016-1-18 21:13

据说耶拿的谱线分辨率高一些，当然可以试试ICP-MS

作者: 铃儿响叮当 时间: 2016-1-18 21:14 标题: 回复 #9 夜蓝星的帖子

TDS太高，上ICP-MS必须稀释，而且也同样污染仪器。

作者: 小黄 时间: 2016-1-18 21:15

我们用加标来减少干扰，完全消除不可能的，只能尽量测准点。

作者: 熊猫 时间: 2016-1-18 21:15

可以多选几个谱线，一般220，217，283，加个405看一下呀

作者: ayanyang 时间: 2016-1-18 21:15

我们用IEC和内标校正。

作者: 铃儿响叮当 时间: 2016-1-18 21:16 标题: 回复 #13 ayanyang 的帖子

内标对谱线干扰能起不到任何作用！内标只能对定量起作用，对定性作用基本无作用！

作者: 铃儿响叮当 时间: 2016-1-18 21:17 标题: 回复 #11 小黄的帖子

应该是标准类似于标准加入法吧！

作者: 铃儿响叮当 时间: 2016-1-18 21:17 标题: 回复 #12 熊猫的帖子

CuZn合金测Pb的话，405这条是最好的。

作者: ayanyang 时间: 2016-1-18 21:18 标题: 回复 #14 铃儿响叮当的帖子

对基体消除差异还是有点帮助的。

作者: 红旗渠 时间: 2016-1-18 21:18

金属材料中元素分析我们都是采用基体匹配。

作者: 但是 时间: 2016-1-18 21:19

最好还是要用基体匹配

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