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标题: 【转载】【求助】Al的TEM截面样品制备 [打印本页]

作者: nsdm 时间: 2016-2-9 20:22 标题: 【转载】【求助】Al的TEM截面样品制备

以前做过基底是氧化锆的涂层的截面样品，现在做的样品基底是Al，因为金属Al非常软，延展性很好，抛光磨的过程中发现两个对粘的表面容易乌到一块，两个表面中间的gap也越来越大。不知道在座没有人做过比较软的金属的TEM截面样品，帮忙提出一点建议，不尽感激！

作者: 但是 时间: 2016-2-9 20:23

铝样品比较好磨，在研磨过程中加水了吗，怎么研磨的，说说步骤，用的多少号砂纸

作者: jom 时间: 2016-2-9 20:23

只用FIB做过Al的截面样品需要比较好的经验可以做出来用来做STEM高分辨的样品

作者: nsdm 时间: 2016-2-9 20:24 标题: 回复 #2 但是的帖子

加了水啊，但是用400的开始磨的，一直到1200，1200以后又用diamond film 从1um到0.5再到0.25μm。

作者: nsdm 时间: 2016-2-9 20:24 标题: 回复 #3 jom 的帖子

FIB的话太厚了，100nm的厚度做不了高分辨啊

作者: nsdm 时间: 2016-2-9 20:25 标题: 回复 #3 jom 的帖子

难道你能用FIB得到20nm左右厚度的样品？

作者: 但是 时间: 2016-2-9 20:26

个人觉得400号砂纸有点粗，虽然磨得快，由于是截面样品，很容易产生铝沿着你研磨的方向发生拉伸，你可以在每道研磨工序后，用显微镜观察一下，确保你所要观察的那个涂层不要被铝所覆盖，在最后几道研磨过程中，研磨方向最好是平行截面的方向

作者: jom 时间: 2016-2-9 20:27 标题: 回复 #6 nsdm 的帖子

可以~
。。。。。。

作者: jom 时间: 2016-2-9 20:28 标题: 回复 #5 nsdm 的帖子

FIB要做出一个可以做普通高分辨的Al截面样品很容易

作者: nsdm 时间: 2016-2-9 20:29 标题: 回复 #7 但是的帖子

请问什么是平行截面的方向？是指跟对粘的界面平行？这样的话那些grinding particle会跑到对粘的空隙里去吧？

作者: nsdm 时间: 2016-2-9 20:30 标题: 回复 #9 jom 的帖子

你好牛啊！！我这里管仪器的老师说100nm是极限，求经验啊

作者: jom 时间: 2016-2-9 20:31 标题: 回复 #11 nsdm 的帖子

你们那里是什么设备？

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